GB113451989鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)JG/T2032007鋼結(jié)構(gòu)超聲波探傷及質(zhì)量分級(jí)法中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果分級(jí)1134589METHODFORMANUALULTRASONICTESTINGANDCLASSIFICATIONOFTESTINGRESULTSFORFERRITICSTEELWDLDS1主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了檢驗(yàn)焊縫及熱影響區(qū)缺陷,確定缺陷位置、尺寸和缺陷評(píng)定的一般方法及探傷結(jié)果的分級(jí)方法本標(biāo)準(zhǔn)適用于母材厚度不小于8MM的鐵素體類鋼全焊透熔化焊對(duì)接焊縫脈沖反射法手工超聲波檢驗(yàn)本標(biāo)準(zhǔn)不適用于鑄鋼及奧氏體不銹鋼焊縫外徑小于159MM的鋼管對(duì)接焊縫內(nèi)徑小于等于200MM的管座角焊縫及外徑小于250MM和內(nèi)外徑之比小于80的縱向焊縫2引用標(biāo)準(zhǔn)ZBY344超聲探傷用探頭型號(hào)命名方法ZBY231超聲探傷用探頭性能測(cè)試方法ZBY232超聲探傷用1號(hào)標(biāo)準(zhǔn)試塊技術(shù)條件ZBJ04001A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)工作性能測(cè)試方法3術(shù)語(yǔ)31簡(jiǎn)化水平距離L從探頭前沿到缺陷在探傷面上測(cè)量的水平距離32缺陷指示長(zhǎng)度L焊縫超聲檢驗(yàn)中,按規(guī)定的測(cè)量方法以探頭移動(dòng)距離測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度33探頭接觸面寬度W環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí)為探頭寬度,縱縫檢驗(yàn)為探頭長(zhǎng)度,見圖134縱向缺陷大致上平行于焊縫走向的缺陷35橫向缺陷大致上垂直于焊縫走向的缺陷36幾何臨界角筒形工件檢驗(yàn),折射聲束軸線與內(nèi)壁相切時(shí)的折射角37平行掃查在斜角探傷中,將探頭置于焊縫及熱影響區(qū)表面,使聲束指向焊縫方向,并沿焊縫方向移動(dòng)的掃查方法38斜平行掃查在斜角探傷中,使探頭與焊縫中心線成一角度,平等于焊縫方向移動(dòng)的掃查方法39探傷截面串列掃查探傷時(shí),作為探傷對(duì)象的截,一般以焊縫坡口面為探傷截面,見圖2310串列基準(zhǔn)線串列掃查時(shí),作為一發(fā)一收兩探頭等間隔移動(dòng)基準(zhǔn)的線一般設(shè)在離探傷截面距離為05跨距的位置,見圖2311參考線探傷截面的位置焊后已被蓋住,所以施焊前應(yīng)予先在探傷面上,離焊縫坡口一定距離畫出一標(biāo)記線,該線即為參考線,將作為確定串列基準(zhǔn)線的依據(jù),見圖3312橫方形串列掃查將發(fā)、收一組探頭,使其入射點(diǎn)對(duì)串列基準(zhǔn)線經(jīng)常保持等距離平行于焊縫移動(dòng)的掃查方法,見圖4313縱方形串列掃查將發(fā)、收一組探頭使其入射點(diǎn)對(duì)串列基準(zhǔn)線經(jīng)常保持等距離,垂直于焊縫移動(dòng)的掃查方法,見圖44檢驗(yàn)人員41從事焊縫探傷的檢驗(yàn)人員必須掌握超聲波探傷的基礎(chǔ)技術(shù),具有足夠的焊縫超聲波探傷經(jīng)驗(yàn),并掌握一定的材料、焊接基礎(chǔ)知識(shí)42焊縫超聲檢驗(yàn)人員應(yīng)按有關(guān)規(guī)程或技術(shù)條件的規(guī)定經(jīng)嚴(yán)格的培訓(xùn)和考核,并持有相考核組織頒發(fā)的等級(jí)資格證書,從事相對(duì)應(yīng)考核項(xiàng)目的檢驗(yàn)工作注一般焊接檢驗(yàn)專業(yè)考核項(xiàng)目分為板對(duì)接焊縫管件對(duì)接焊縫管座角焊縫節(jié)點(diǎn)焊縫等四種43超聲檢驗(yàn)人員的視力應(yīng)每年檢查一次,校正視力不得低于105探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能51探傷儀使用A型顯示脈沖反射式探傷儀,其工作頻率范圍至少為15MHZ,探傷儀應(yīng)配備衰減器或增益控制器,其精度為任意相鄰12DB誤差在1DB內(nèi)步進(jìn)級(jí)每檔不大于2DB,總調(diào)節(jié)量應(yīng)大于60DB,水平線性誤差不大于1,垂直線性誤差不大于552探頭521探頭應(yīng)按ZBY344標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定作出標(biāo)志522晶片的有效面積不應(yīng)超過(guò)500MM2,且任一邊長(zhǎng)不應(yīng)大于25MM523聲束軸線水平偏離角應(yīng)不大于2524探頭主聲束垂直方向的偏離,不應(yīng)有明顯的雙峰,其測(cè)試方法見ZBY231525斜探頭的公稱折射角為45、60、70或K值為10、15、20、25,折射角的實(shí)測(cè)值與公稱值的偏差應(yīng)不大于2K值偏差不應(yīng)超過(guò)01,前沿距離的偏差應(yīng)不大于1MM如受工件幾何形狀或探傷面曲率等限制也可選用其他小角度的探頭526當(dāng)證明確能提高探測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性,或能夠較好地解決一般檢驗(yàn)時(shí)的困難而又確保結(jié)果的正確,推薦采用聚焦等特種探頭53系統(tǒng)性能531靈敏度余量系統(tǒng)有效靈敏度必須大于評(píng)定靈敏度10DB以上532遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力A直探頭X30DBB斜探頭Z6DB54探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能和周期檢查541探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能,除靈敏度余量外,均應(yīng)按ZBJ04001的規(guī)定方法進(jìn)行測(cè)試542探傷儀的水平線性和垂直線性,在設(shè)備首次使用及每隔3個(gè)月應(yīng)檢查一次543斜探頭及系統(tǒng)性能,在表1規(guī)定的時(shí)間內(nèi)必須檢查一次6試塊61標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸見附錄A,試塊制造的技術(shù)要求應(yīng)符合ZBY232的規(guī)定,該試塊主要用于測(cè)定探傷儀、探頭及系統(tǒng)性能62對(duì)比試塊的形狀和尺寸見附錄B621對(duì)比試塊采用與被檢驗(yàn)材料相同或聲學(xué)性能相近的鋼材制成試塊的探測(cè)面及側(cè)面,在以25MHZ以上頻率及高靈敏條件下進(jìn)行檢驗(yàn)時(shí),不得出現(xiàn)大于距探測(cè)面20MM處的2MM平底孔反射回來(lái)的回波幅度1/4的缺陷回波622試塊上的標(biāo)準(zhǔn)孔,根據(jù)探傷需要,可以采取其他形式布置或添加標(biāo)準(zhǔn)孔,但應(yīng)注意不應(yīng)與試塊端角和相鄰標(biāo)準(zhǔn)孔的反射發(fā)生混淆623檢驗(yàn)曲面工件時(shí),如探傷面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí),應(yīng)采用與探傷面曲率相同的對(duì)比試塊反射體的布置可參照對(duì)比試塊確定,試塊寬度應(yīng)滿足式1B2S/DE1式中B試塊寬度,MM波長(zhǎng),MMS聲程,MDE聲源有效直徑,MM63現(xiàn)場(chǎng)檢驗(yàn),為校驗(yàn)靈敏度和時(shí)基線,可以采用其他型式的等效試塊7檢驗(yàn)等級(jí)71檢驗(yàn)等級(jí)的分級(jí)根據(jù)質(zhì)量要求檢驗(yàn)等級(jí)分為A、B、C三級(jí),檢驗(yàn)的完善程度A級(jí)最低,B級(jí)一般,C級(jí)最高,檢驗(yàn)工作的難度系數(shù)按A、B、C順序逐級(jí)增高應(yīng)按照工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、焊接方法、使用條件及承受載荷的不同,合理的選用檢驗(yàn)級(jí)別檢驗(yàn)等級(jí)應(yīng)接產(chǎn)品技術(shù)條件和有關(guān)規(guī)定選擇或經(jīng)合同雙方協(xié)商選定注A級(jí)難度系數(shù)為1B級(jí)為56C級(jí)為1012本標(biāo)準(zhǔn)給出了三個(gè)檢驗(yàn)等級(jí)的檢驗(yàn)條件,為避免焊件的幾何形狀限制相應(yīng)等級(jí)檢驗(yàn)的有效性,設(shè)計(jì)、工藝人員應(yīng)考慮超聲檢驗(yàn)可行性的基礎(chǔ)上進(jìn)行結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和工藝安排72檢驗(yàn)等級(jí)的檢驗(yàn)范圍721A級(jí)檢驗(yàn)采用一種角度的探頭在焊縫的單面單側(cè)進(jìn)行檢驗(yàn),只對(duì)允許掃查到的焊縫截面進(jìn)行探測(cè)一般不要求作橫向缺陷的檢驗(yàn)?zāi)覆暮穸却笥?0MM時(shí),不得采用A級(jí)檢驗(yàn)722B級(jí)檢驗(yàn)原則上采用一種角度探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢驗(yàn),對(duì)整個(gè)焊縫截面進(jìn)行探測(cè)母材厚度大于100MM時(shí),采用雙面雙側(cè)檢驗(yàn)受幾何條件的限制,可在焊縫的雙面半日側(cè)采用兩種角度探頭進(jìn)行探傷條件允許時(shí)應(yīng)作橫向缺陷的檢驗(yàn)723C級(jí)檢驗(yàn)至少要采用兩種角度探頭在焊縫的單面雙側(cè)進(jìn)行檢驗(yàn)同時(shí)要作兩個(gè)掃查方向和兩種探頭角度的橫向缺陷檢驗(yàn)?zāi)覆暮穸却笥?00MM時(shí),采用雙面?zhèn)葯z驗(yàn)其他附加要求是A對(duì)接焊縫余高要磨平,以便探頭在焊縫上作平行掃查B焊縫兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過(guò)的母材部分要用直探頭作檢查C焊縫母材厚度大于等于100MM,窄間隙焊縫母材厚度大于等于40MM時(shí),一般要增加串列式掃查,掃查方法見附錄C8檢驗(yàn)準(zhǔn)備81探傷面811按不同檢驗(yàn)等級(jí)要求選擇探傷面推薦的探傷面如圖5和表2所示812檢驗(yàn)區(qū)域的寬度應(yīng)是焊縫本身再加上焊縫兩側(cè)各相當(dāng)于母材厚度30的一段區(qū)域,這個(gè)區(qū)域最小10MM,最大20MM,見圖6813探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他外部雜技探傷表面應(yīng)平整光滑,便于探頭的自由掃查,其表面粗糙度不應(yīng)超過(guò)63M,必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行打磨A采用一次反射法或串列式掃查探傷時(shí),探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于125PP2TG2或P2K3式中P跨距,MM母材厚度,MMB采用直射法探傷時(shí),探頭移動(dòng)區(qū)應(yīng)大于075P814去除余高的焊縫,應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊保留余高的焊縫,如焊縫表面有咬邊,較大的隆起凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈?并作圓滑過(guò)渡以影響檢驗(yàn)結(jié)果的評(píng)定815焊縫檢驗(yàn)前,應(yīng)劃好檢驗(yàn)區(qū)段,標(biāo)記出檢驗(yàn)區(qū)段編號(hào)82檢驗(yàn)頻率檢驗(yàn)頻率F一般在25MHZ范圍內(nèi)選擇,推薦選用225MHZ公稱頻率檢驗(yàn)特殊情況下,可選用低于2MHZ或高于25MHZ的檢驗(yàn)頻率,但必須保證系統(tǒng)靈敏度的要求83探頭角度831斜探頭的折射角或K值應(yīng)依據(jù)材料厚度,焊縫坡口型式及預(yù)期探測(cè)的主要缺陷來(lái)選擇對(duì)不同板厚推薦的探頭角度和探頭數(shù)量見表2832串列式掃查,推薦選用公稱折射角為45的兩個(gè)探頭,兩個(gè)探頭實(shí)際折射角相差不應(yīng)超過(guò)2,探頭前洞長(zhǎng)度相差應(yīng)小于2MM為便于探測(cè)厚焊縫坡口邊緣未熔合缺陷,亦可選用兩個(gè)不同角度的探頭,但兩個(gè)探頭角度均應(yīng)在3555范圍內(nèi)84耦合劑841應(yīng)選用適當(dāng)?shù)囊后w或糊狀物作為耦合劑,耦合劑應(yīng)具有良好透聲性和適宜流動(dòng)性,不應(yīng)對(duì)材料和人體有作用,同時(shí)應(yīng)便于檢驗(yàn)后清理842典型的耦合劑為水、機(jī)油、甘油和漿糊,耦合劑中可加入適量的“潤(rùn)濕劑“或活性劑以便改善耦合性能843在試塊上調(diào)節(jié)儀器和產(chǎn)品檢驗(yàn)應(yīng)采用相同的耦合劑85母材的檢查采用C級(jí)檢驗(yàn)時(shí),斜探頭掃查聲束通過(guò)的母材區(qū)域應(yīng)用直探頭作檢查,以便探測(cè)是否有有探傷結(jié)果解釋的分層性或其他缺陷存在該項(xiàng)檢查僅作記錄,不屬于對(duì)母材的驗(yàn)收檢驗(yàn)?zāi)覆臋z查的規(guī)程要點(diǎn)如下A方法接觸式脈沖反射法,采用頻率25MHZ的直探頭,晶片直徑1025MMB靈敏度將無(wú)缺陷處二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿幅的100C記錄凡缺陷信號(hào)幅度超過(guò)熒光屏滿幅20的部位,應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記,并予以記錄9儀器調(diào)整和校驗(yàn)91時(shí)基線掃描的調(diào)節(jié)熒光屏?xí)r基線刻度可按比例調(diào)節(jié)為代表缺陷的水平距離L簡(jiǎn)化水平距離L深度H或聲程S,見圖7911探傷面為平面時(shí),可在對(duì)比試塊上進(jìn)行時(shí)基線掃描調(diào)節(jié),掃描比例依據(jù)工件工和選用的探頭角度來(lái)確定,最大檢驗(yàn)范圍應(yīng)調(diào)至熒光屏?xí)r基線滿刻度的2/3以上912探傷面曲率半徑R大于W2/4時(shí),可在平面對(duì)比試塊上或與探傷面曲率相近的曲面對(duì)比試塊上,進(jìn)行時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)913探傷面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí),探頭楔塊應(yīng)磨成與工件曲面相吻合,在623條規(guī)定的對(duì)比試塊上作時(shí)基線掃描調(diào)節(jié)92距離波幅DAC曲線的繪制921距離波幅曲線由選用的儀器、探頭系統(tǒng)在對(duì)比試塊上的實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)繪制見圖8,其繪制方法見附錄D,曲線由判廢線RL,定量線SL和評(píng)定線EL組成,不同驗(yàn)收級(jí)別的各線靈敏度見表3表中的DAC是以3MM標(biāo)準(zhǔn)反射體繪制的距離波幅曲線即DAC基準(zhǔn)線評(píng)定線以上至定量線以下為1區(qū)弱信號(hào)評(píng)定區(qū)定量線至判廢線以下為區(qū)長(zhǎng)度評(píng)定區(qū)判廢線及以上區(qū)域?yàn)閰^(qū)判廢區(qū)922探測(cè)橫向缺陷時(shí),應(yīng)將各線靈敏度均提高6DB923探傷面曲率半徑R小于等于W2/4時(shí),距離波幅曲線的繪制應(yīng)在曲面對(duì)比試塊上進(jìn)行924受檢工件的表面耦合損失及材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同,否則應(yīng)進(jìn)行傳輸損失修整見附錄E,在1跨距聲程內(nèi)最大傳輸損失差在2DB以內(nèi)可不進(jìn)行修整925距離波幅曲線可繪制在坐標(biāo)紙上也可直接繪制在熒光屏刻度板上,但在整個(gè)檢驗(yàn)范圍內(nèi),曲線應(yīng)處于熒光屏滿幅度的20以上,見圖9,如果作不到,可采用分段繪制的方法見圖1093儀器調(diào)整的校驗(yàn)931每次檢驗(yàn)前應(yīng)在對(duì)比試塊上,對(duì)時(shí)基線掃描比例和距離波幅曲線靈敏度進(jìn)行調(diào)節(jié)或校驗(yàn)校驗(yàn)點(diǎn)沙于兩點(diǎn)932檢驗(yàn)過(guò)程中每4H之內(nèi)或檢驗(yàn)工作結(jié)束后應(yīng)對(duì)時(shí)基線掃描和靈敏度進(jìn)行校驗(yàn),校驗(yàn)可在對(duì)比試塊或其他兒試塊上進(jìn)行933掃描調(diào)節(jié)校驗(yàn)時(shí),如發(fā)現(xiàn)校驗(yàn)點(diǎn)反射波在掃描線上偏移超過(guò)原校驗(yàn)點(diǎn)刻度讀數(shù)的10或滿刻度的5兩者取較小值,則掃描比例應(yīng)重新調(diào)整,前次校驗(yàn)后已經(jīng)記錄的缺陷,位置參數(shù)應(yīng)重新測(cè)定,并予以更正934靈敏度校驗(yàn)時(shí),如校驗(yàn)點(diǎn)的反射波幅比距離波幅曲線降低20或2DB以上,則儀靈敏度應(yīng)重新調(diào)整,并對(duì)前次校驗(yàn)后檢查的全部焊縫應(yīng)重新檢驗(yàn)如校驗(yàn)點(diǎn)的反射波幅比距離波幅曲線增加20或2DB以上,儀器靈敏度應(yīng)重新調(diào)整,而前次校驗(yàn)后,已經(jīng)記錄的缺陷,應(yīng)對(duì)缺陷尺寸參數(shù)重新測(cè)定并予以評(píng)定10初始檢驗(yàn)101一般要求1011超聲檢驗(yàn)應(yīng)在焊縫及探傷表面經(jīng)外觀檢查合格并滿足813條的要求后進(jìn)行1012檢驗(yàn)前,探傷人員應(yīng)了解受驗(yàn)工件的材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、曲率、厚度、焊接方法、焊縫種類、坡口形式、焊縫余高及背面襯墊、溝槽等情況1013探傷靈敏度應(yīng)不低于評(píng)定線靈敏度1014掃查速度不應(yīng)大于150MM/S,相鄰兩次探頭移動(dòng)間隔保證至少有探頭寬度10的重疊1015對(duì)波幅超過(guò)評(píng)定線的反射波,應(yīng)根據(jù)探頭位置、方向、反射波的位置及1012條了解的焊縫情況,判斷其是否為缺陷判斷為缺陷的部位應(yīng)在焊縫表面作出標(biāo)記102平板對(duì)接焊縫的檢驗(yàn)1021為探測(cè)縱向缺陷,斜探頭垂直于焊縫中心線在探傷面上,作鋸齒型掃查見圖11探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊縫截面及熱影響區(qū)在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí),還應(yīng)作1015的左右轉(zhuǎn)動(dòng)1022為探測(cè)焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺陷應(yīng)進(jìn)行平行和斜平行掃查AB級(jí)檢驗(yàn)時(shí),可寅邊緣使探頭與焊縫中心線成1020作斜平行的掃查圖12BC級(jí)檢驗(yàn)時(shí),可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查圖13,焊縫母材厚度超過(guò)100MM時(shí),應(yīng)在焊縫的兩面作平行掃查或者采用兩種角度探頭45和60或45和70并用作單面兩個(gè)方向的平行掃查亦可用兩個(gè)45探頭作串列式平行掃查C對(duì)電渣焊縫還應(yīng)增加與焊縫中心線成45的斜向掃查1023為確定缺陷的位置、方向、形狀、觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形或區(qū)分缺陷訊號(hào)與偽訊號(hào),可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式圖14103曲面工件對(duì)接焊縫的檢驗(yàn)1031探傷面為曲面時(shí),應(yīng)按623和913條的規(guī)定選用對(duì)比試塊,并采用102條的方法進(jìn)行檢驗(yàn),C級(jí)檢驗(yàn)時(shí),受工件幾何形狀限制,橫向缺陷探測(cè)無(wú)法實(shí)施時(shí),應(yīng)在檢驗(yàn)記錄中予以注明1032環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí),對(duì)比試塊的曲率半徑為探傷面曲率半徑0915倍的對(duì)比試塊均可采用探測(cè)橫向缺陷時(shí)按1033條的方法進(jìn)行1033縱縫檢驗(yàn)時(shí),對(duì)比試塊的曲率半徑與探傷面曲率半徑之差應(yīng)小于1010331根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭角度,并考慮幾何臨界角的限制,確保聲束能掃查到整個(gè)焊縫厚度條件允許時(shí),聲束在曲底面的入射角度不應(yīng)超過(guò)7010332探頭接觸面修磨后,應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和折射角或K值的變化,并用曲面試塊作實(shí)際測(cè)定10333當(dāng)R大于W2/4采用平面對(duì)比試塊調(diào)節(jié)儀器時(shí),檢驗(yàn)中應(yīng)注意到熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)際的徑向埋藏深度或水平距離孤長(zhǎng)的差異,必要時(shí)應(yīng)進(jìn)行修正104其他結(jié)構(gòu)焊縫的檢驗(yàn)1041一般原則A盡可能采用平板焊縫檢驗(yàn)中已經(jīng)行之有效的各種方法B在選擇探傷面和探頭時(shí)應(yīng)考慮到檢測(cè)各種類型缺陷的可能性,并使聲束盡可能垂直于該結(jié)構(gòu)焊縫中的主要缺陷1042T型接頭10421腹板厚度不同時(shí),選用的折射角見表4,斜探頭在腹板一側(cè)作直射法和一次反射法探傷見圖15位置210422采用折射角45K1探頭在腹板一側(cè)作直射法和一次反射法探測(cè)焊縫及腹板側(cè)熱影響區(qū)的裂紋圖1610423為探側(cè)腹板和翼板間未焊透或翼板側(cè)焊縫下層狀撕裂等缺陷,可采用直探頭圖15位置1或斜探頭圖16位置3在翼板外側(cè)探傷或采用折射角45K1探頭在翼板內(nèi)側(cè)作一次反射法探傷圖15位置31043角接接頭角接接頭探傷面及折射角一般按圖17和表4選擇1044管座角焊縫10441根據(jù)焊縫結(jié)構(gòu)形式,管座角焊縫的檢驗(yàn)有如下五種探側(cè)方法,可選擇其中一種或幾種方式組合實(shí)施檢驗(yàn)探測(cè)方式的選擇應(yīng)由合同雙方商定,并重點(diǎn)考慮主要探測(cè)對(duì)象和幾何條件的限制圖18、19A在接管內(nèi)壁表面采用直探頭探傷圖18位置1B在容器內(nèi)表面用直探頭探傷圖19位置1C在接管外表面采用斜探頭探傷圖19位置2D在接管內(nèi)表面采用斜探頭探傷圖18位置3,圖19位置3E在容器外表面采用斜探頭探傷圖18位置210442管座角焊縫以直探頭檢驗(yàn)為主,對(duì)直探頭掃查不到的區(qū)域或結(jié)構(gòu),缺陷向性不適于采用直探頭檢驗(yàn)時(shí),可采用斜探頭檢驗(yàn),斜探頭檢驗(yàn)應(yīng)符合1041條的規(guī)定1045直探頭檢驗(yàn)的規(guī)程A推薦采用頻率25MHZ直探頭或雙晶直探頭,探頭與工件接觸面的尺寸W應(yīng)小于2RB靈敏度可在與工件同曲率的試塊上調(diào)節(jié),也可采用計(jì)算法或DGS曲線法,以工件底面回波調(diào)節(jié)其檢驗(yàn)等級(jí)評(píng)定見表511規(guī)定檢驗(yàn)111一般要求1111規(guī)定檢驗(yàn)只對(duì)初始檢驗(yàn)中被標(biāo)記的部位進(jìn)行檢驗(yàn)1112探傷靈敏度應(yīng)調(diào)節(jié)到評(píng)定靈敏度1113對(duì)所有反射波幅超過(guò)定量線的缺陷,均應(yīng)確定其位置,最大反射波幅所在區(qū)域和缺陷指示長(zhǎng)度112最大反射波幅的測(cè)定1121對(duì)判定為缺陷的部位,采取1023條的探頭掃查方式、增加探傷面、改變探頭折射角度進(jìn)行探測(cè),測(cè)出最大反射波幅并與距離波幅曲線作比較,確定波幅所在區(qū)域波幅測(cè)定的允許誤差為2DB113位置參數(shù)的測(cè)定1131缺陷位置以獲得缺陷最大反射波的位置來(lái)表示,根據(jù)相應(yīng)的探頭位置和反射波在熒光屏上的位置來(lái)確定如下全部或部分參數(shù)A縱坐標(biāo)L代表缺陷沿焊縫方向的位置以檢驗(yàn)區(qū)段編號(hào)為標(biāo)記基準(zhǔn)點(diǎn)即原點(diǎn)建立坐標(biāo)坐標(biāo)正方向距離L表示缺陷到原點(diǎn)之間的距離見圖20B深度坐標(biāo)H代表缺陷位置到探傷面的垂直距離MM以缺陷最大反射波位置的深度值表示C橫坐標(biāo)Q代表缺陷位置離開焊縫中心線的垂直距離,可由缺陷最大反射波位置的水平距離或簡(jiǎn)化水平距離求得1132缺陷的深度和水平距離或簡(jiǎn)化水平距離兩數(shù)值中的一個(gè)可由缺陷最大反射波在熒光屏上的位置直接讀出,另一數(shù)值可采用計(jì)算法、曲線法、作圖法或缺陷定位尺求出114尺寸參數(shù)的測(cè)定應(yīng)根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當(dāng)量值或測(cè)定缺陷指示長(zhǎng)度L1141缺陷當(dāng)量,用當(dāng)量平底孔直徑表示,主要用于直探頭檢驗(yàn),可采用公式計(jì)算,DGS曲線,試塊對(duì)比或當(dāng)量計(jì)算尺確定缺陷當(dāng)量尺寸1142缺陷指示長(zhǎng)度L的測(cè)定推薦采用如下二種方法A當(dāng)缺陷反射波只有一個(gè)高點(diǎn)時(shí),用降低6DB相對(duì)靈敏度法測(cè)長(zhǎng)見圖21B在測(cè)長(zhǎng)掃查過(guò)程中,如發(fā)現(xiàn)缺陷反射波峰值起伏變化,有多個(gè)高點(diǎn),則以缺陷兩端反射波極大值之間探頭的移動(dòng)長(zhǎng)度確定為缺陷指示長(zhǎng)度,即端點(diǎn)峰值法見圖2212缺陷評(píng)定121超過(guò)評(píng)定線的信號(hào)應(yīng)注意其是否具有裂紋等危害性缺陷特征,如有懷疑時(shí)采取改變探頭角度,增加探傷面、觀察動(dòng)態(tài)波型、結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作判定,如對(duì)波型不能準(zhǔn)確判斷時(shí),應(yīng)輔以其他檢驗(yàn)作綜合判定122最大反射波幅位于區(qū)的缺陷,其指示長(zhǎng)度小于10MM時(shí)按5MM計(jì)123相鄰兩缺陷各向間距小于8MM時(shí),兩缺陷指示長(zhǎng)度之和作為單個(gè)缺陷的指示長(zhǎng)度13檢驗(yàn)結(jié)果的等級(jí)分類131最大反射波幅位于區(qū)的缺陷,根據(jù)缺陷指示長(zhǎng)度按表6的規(guī)定予以評(píng)級(jí)132最大反射波幅不超過(guò)評(píng)定線的缺陷,均應(yīng)為級(jí)133最大反射波幅超過(guò)評(píng)定線的缺陷,檢驗(yàn)者判定為裂紋等危害性缺陷時(shí),無(wú)論其波幅和尺寸如何,均評(píng)定為級(jí)134反射波幅位于區(qū)的非裂紋性缺陷,均評(píng)為級(jí)135反射波幅位于區(qū)的缺陷,無(wú)論其指示長(zhǎng)度如何,均評(píng)定為級(jí)136不合格的缺陷,應(yīng)予返修,返修區(qū)域修后,返修部位及補(bǔ)焊受影響的區(qū)域,應(yīng)按原探傷條件進(jìn)行復(fù)驗(yàn),復(fù)探部位的缺陷亦應(yīng)按12章評(píng)定14記錄與報(bào)告141檢驗(yàn)記錄主要內(nèi)容工件名稱、編號(hào)、焊縫編號(hào)、坡口形式、焊縫種類、母材材質(zhì)、規(guī)格、表面情況、探傷方法、檢驗(yàn)規(guī)程、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)、所使用的儀器、探頭、耦合劑、試塊、掃描比例、探傷靈敏度所發(fā)現(xiàn)的超標(biāo)缺陷及評(píng)定記錄,檢驗(yàn)人員及檢驗(yàn)日期等反射波幅位于區(qū),其指示長(zhǎng)度小于表6的缺陷也應(yīng)予記錄142檢驗(yàn)報(bào)告主要內(nèi)容工件名稱、合同號(hào)、編號(hào)、探傷方法、探傷部位示意圖、檢驗(yàn)范圍、探傷比例收標(biāo)準(zhǔn)、缺陷情況、返修情況、探傷結(jié)論、檢驗(yàn)人員及審核人員簽字等143檢驗(yàn)記錄和報(bào)告應(yīng)至少保存7年144檢驗(yàn)記錄和報(bào)告的推薦格式見附錄F附錄A標(biāo)準(zhǔn)試塊的形狀和尺寸補(bǔ)充件注尺寸公差01各邊垂直度不大于005C面尺寸基準(zhǔn)面,上部各折射角刻度尺寸值見表A1,下部見表A2附錄B對(duì)比試塊的形狀和尺寸補(bǔ)充件B1對(duì)比試塊的形狀和尺寸見表B1注尺寸公差01MM各邊垂直度不大于01表面粗糙度不大于63M標(biāo)準(zhǔn)孔與加工面的平行度不大于005附錄C串列掃查探傷方法補(bǔ)充件C1探傷設(shè)備C11超聲波探傷儀的工作方式必須具備一發(fā)一收工作狀態(tài)C12為保證一發(fā)一收探頭相對(duì)于串列基準(zhǔn)線經(jīng)常保持等距離移動(dòng),應(yīng)配備適宜的探頭夾具,并適用于橫方型及縱方型兩種掃查方式C13推薦采用,頻率225MHZ,公稱折射角45探頭,兩探頭入射點(diǎn)間最短間距應(yīng)小于20MMC2儀器調(diào)整C21時(shí)基線掃描的調(diào)節(jié)采用單探頭按標(biāo)準(zhǔn)正文91的方法調(diào)節(jié),最大探測(cè)范圍應(yīng)大于1跨距聲程C22靈敏度調(diào)整在工件無(wú)缺陷部位,將發(fā)、收兩探頭對(duì)向放置,間距為1跨距,找到底面最大反射波見圖C1及式C1,調(diào)節(jié)增益使反射波幅為熒光屏滿幅高度的40,并以此為基準(zhǔn)波高靈敏度分別提高8DB、14DB和20DB代表判廢靈敏度、定量靈敏度和評(píng)定靈敏度C3檢驗(yàn)程序C31檢驗(yàn)準(zhǔn)備A探傷面對(duì)接焊縫的單面雙側(cè)B串列基準(zhǔn)線如發(fā)、收兩探頭實(shí)測(cè)折射角的平均值為或K值平均為K在離參考線參考線至探傷截面的距離L05P的位置標(biāo)記串列基準(zhǔn)線,見圖C2及式C205PTGC1或05PKC2C32初始探傷C321探傷靈敏度不低于評(píng)定靈敏度C322掃查方式采用橫方形或縱方形串列掃查,掃查范圍以串列基準(zhǔn)線為中心盡可能掃查到整個(gè)探傷截面,每個(gè)探傷截面應(yīng)掃查一遍C323標(biāo)記超過(guò)評(píng)定線的反射波,被判定為缺陷時(shí),應(yīng)在焊縫的相應(yīng)位置作出標(biāo)記C33規(guī)定探傷C331對(duì)象只對(duì)初始檢驗(yàn)標(biāo)記部位進(jìn)行探傷C332探傷靈敏度為評(píng)定靈敏度C333缺陷位置不同深度的缺陷,其反射波均出現(xiàn)在相當(dāng)于半跨距聲程位置見圖C3缺陷的水平距離和深度分別為C3C4C334缺陷以射波幅在最大反射波探頭位置,以40線為基準(zhǔn)波高測(cè)出缺陷反射波的DB數(shù)作為缺陷的相對(duì)波幅,記為SLDBC335缺陷指示長(zhǎng)度的測(cè)定采用以評(píng)定靈敏度為測(cè)長(zhǎng)靈敏度的絕對(duì)靈敏度法測(cè)量缺陷指示長(zhǎng)度即進(jìn)行左右掃查橫方形串列掃查,以波幅超過(guò)評(píng)定線的探頭移動(dòng)范圍作為缺陷指示長(zhǎng)度C4缺陷評(píng)定所有反射波幅度超過(guò)評(píng)定線的缺陷均應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)正文第12章的規(guī)定予以評(píng)定,并按第13章的規(guī)定對(duì)探傷結(jié)果作等級(jí)分類附錄D距離波幅DAC曲線的制作補(bǔ)充件D1試件D11采用標(biāo)準(zhǔn)附錄B對(duì)比試塊或其他等效形式試塊繪制DAC曲線D12R小于等于W2/4時(shí),應(yīng)采用探傷面曲率與工件探傷面曲率相同或相近的對(duì)比試塊D2繪制步驟DAC曲線可繪制在坐標(biāo)紙上稱DAC曲線,亦可直接繪制在熒光屏前透明的刻度板上稱DAC曲線板D21DAC曲線的繪制步驟如下A將測(cè)試范圍調(diào)整到探傷使用的最大探測(cè)范圍,并按深度、水平或聲程法調(diào)整時(shí)基線掃描比例B根據(jù)工件厚度和曲率選擇合適的對(duì)比試塊,選取試塊上民探傷深度相同或接近的橫孔為第一基準(zhǔn)孔,將探頭置于試塊探傷面聲束指向該孔,調(diào)節(jié)探頭位置找到橫孔的最高反射波C調(diào)節(jié)“增益“或“衰減器“使該反射幅為熒光屏上某一高度例如滿幅的40該波高即為“基準(zhǔn)波高“,此時(shí),探傷系統(tǒng)的有效靈敏度應(yīng)比評(píng)定靈敏度高10DBD調(diào)節(jié)衰減器,依次探測(cè)其他橫孔,并找到最大反射波高,分別記錄各反射波的相對(duì)波幅值DBE以波幅DB為縱坐標(biāo),以探沿距離聲程、深度或水平距離為橫坐標(biāo),將C、D記錄數(shù)值描繪在坐標(biāo)紙上F將標(biāo)記各點(diǎn)連成圓滑曲線,并延長(zhǎng)到整個(gè)探測(cè)范圍,最近探測(cè)點(diǎn)到探距離O點(diǎn)間畫水平線,該曲線即為3MM橫孔DAC曲線的基準(zhǔn)線G依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)正文表3規(guī)定的各線靈敏度,在基準(zhǔn)線下分別繪出判廢線、定量線、評(píng)定線,并標(biāo)記波幅的分區(qū)H為便于現(xiàn)場(chǎng)探傷校驗(yàn)靈敏度,在測(cè)試上述數(shù)據(jù)的同時(shí),可對(duì)現(xiàn)場(chǎng)使用的便攜試塊上的某一參考反射體進(jìn)行同樣測(cè)量,記錄其反射波位置和反射波幅DB并標(biāo)記在DAC曲線圖上D22DAC曲線的繪制步驟如下A同D21AB依據(jù)工件厚度和曲率選擇合適的對(duì)比試塊,在試塊上所有孔深小于等于探測(cè)深度的孔中,選取能產(chǎn)生最大反射波幅的橫孔為第一基準(zhǔn)孔C調(diào)節(jié)“增益“使該孔的反射波為熒光屏滿幅高度的80,將其峰值標(biāo)記在熒光屏前輔助面板上依次探測(cè)其它橫孔,并找到最大反射波,地峰值點(diǎn)標(biāo)記在輔助面板上,如果做分段繪制,可調(diào)節(jié)衰減器分段繪制曲線D將各標(biāo)記點(diǎn)連成圓滑曲線,并延伸到整個(gè)探測(cè)范圍,該曲線即為3MM橫孔DAC曲線基準(zhǔn)線定量靈敏度下,如分別將靈敏度提高或降低6DB,該線將分別代表評(píng)定或判廢線A級(jí)檢驗(yàn)DAC基準(zhǔn)線即為判廢線E將靈敏度提高850MM提高到10DB,50300MM提高10DB或8DB,該線表示定量線在定量靈敏度下,如分別將靈敏度提高或降低6DB,該線將分別代表評(píng)定或判廢線A級(jí)檢驗(yàn)DAC基準(zhǔn)線即為判廢線F在作上述測(cè)試的同時(shí),可對(duì)現(xiàn)場(chǎng)使用的便攜式試塊上的某一參考反射體作同樣測(cè),并將其反射波位置和峰值標(biāo)記在曲線板上,以便現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行靈敏度校驗(yàn)附錄E聲能傳輸損耗差的測(cè)定補(bǔ)充件工件本身反射波幅度有影響的兩個(gè)主要因素是材料的材質(zhì)衰減和工件表面粗糙度及耦合情況的表面聲能損失超聲波的材