精品文檔-下載后可編輯利用50W實驗設(shè)備測定75W電路的S參數(shù)-新品速遞經(jīng)常接觸有線、地面或者衛(wèi)星電視應(yīng)用的射頻工程師往往需要對這些應(yīng)用電路做S參數(shù)測試。有經(jīng)驗的工程師在首次測量時，會驗證電視調(diào)諧器是否產(chǎn)生他們預(yù)期的回波損耗，如果一致，則問題就簡化為：如何用一個50W矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量75W被測器件的S參數(shù)。如果資金充裕，解決辦法就是購進一種專門用于測試75W電路的實驗儀器(具有75W源和負載阻抗測試端口)。否則使用損耗焊盤將輸入和輸出阻抗從50W轉(zhuǎn)換到75W，這種方法簡單易行，并且能夠得到合理的測量結(jié)果。當(dāng)IC生產(chǎn)廠商需要測定一個用于有線電視的低噪聲放大器的輸入回波損耗時，所有測量結(jié)果必須以75W為標(biāo)準(zhǔn)。也就是說，如果輸入回波損耗S11=-30dB(反射功率是總功率的千分之一，基本上屬于理想匹配)，被75W源阻抗驅(qū)動時，理想情況下，被測器件基本上把所有功率傳遞到低噪聲放大器中。

圖1用于匹配75W被測器件和50W測試端口的損耗焊盤。低頻插入損耗5.72dB。頻率響應(yīng)函數(shù)的平坦度上限由網(wǎng)絡(luò)的配置質(zhì)量決定。當(dāng)由50W信號源驅(qū)動時,如典型的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、信號發(fā)生器和噪聲系數(shù)表等，相同的調(diào)諧器輸入將不再提供良好的回波損耗特性。直接將這個完全匹配的電視調(diào)諧器的輸入與一個50W矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀相連，會產(chǎn)生-14dB的輸入回波損耗，即反射功率將為總功率的1/25。因此,用這個相同的50W矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀驗證電視調(diào)諧器輸入是否正常時，需要采取某些措施。在這種情況下，相應(yīng)的匹配電路是必須的。匹配電路必須具有平坦的頻率響應(yīng)曲線和盡可能低的插入損耗。業(yè)界廣泛認(rèn)可的方案是：使用損耗焊盤(簡稱MLP)，圖1是簡單的純電阻網(wǎng)絡(luò)。此網(wǎng)絡(luò)明顯的特征是能將輸入和輸出阻抗從75W轉(zhuǎn)換到50W，或者從50W轉(zhuǎn)換到75W。這樣可以消除反射，使響應(yīng)特性變得平坦，并且網(wǎng)絡(luò)的損耗能夠非常簡單地從測試儀器標(biāo)定到被測器件。很多測試設(shè)備生產(chǎn)廠商可以提供此類損耗焊盤，并且網(wǎng)絡(luò)易于建立。從ZLOAD到ZLOAD'轉(zhuǎn)換的數(shù)學(xué)推導(dǎo)公式參見附錄。所得出的ZLOAD'表達式說明了測試端口(RSOURCE)的等效MLP和DUT的級聯(lián)阻抗。將公式變形，并用ZLOAD'解出ZLOAD，采取這種方法可以反映出MLP的影響，并且能夠從測試數(shù)據(jù)中測定真實的ZLOAD值，其結(jié)果為：

相應(yīng)的驗算過程也是必要的。例如,通過MLP對一個75W電阻做阻抗測量，并假定網(wǎng)絡(luò)矢量分析儀測定RLOAD'=50W(回波損耗無窮大)。假定RLOAD'=50W，得出R1=43.3W，R2=86.6W，如預(yù)期那樣得到ZLOAD=75W。

圖2用50WVNA測試MAX3558有線/地面廣播系統(tǒng)的低噪聲放大器(兩個MLP作阻抗轉(zhuǎn)換)如果將實部和虛部分開并且利用已得出的數(shù)據(jù)表來計算。通常對75W被測器件的測試將不僅局限于阻抗測試，回波損耗、增益、反向隔離、噪聲系數(shù)和IIP3輸入三階截點測試也十分常見。在這種情況下，就有必要對MLP做一些總體的說明。1.只要RLOAD接近75W，那么由于MLP的不匹配而產(chǎn)生的額外的駐波比將是的。可以忽略由于不匹配產(chǎn)生的測量誤差。2.相反，如果RLOAD值與75W相差甚遠，那么MLP就不能進行適當(dāng)?shù)淖杩罐D(zhuǎn)換。這將會在測量端口和MLP以及MLP與被測器件之間產(chǎn)生額外的駐波比，從而導(dǎo)致額外的測量誤差。3.在指定的頻率范圍之外，MLP可以被看作純電阻。它提供了5.7dB的插入損耗，再加上由于連接器和連接線而產(chǎn)生的附加損耗。4.S11或者S22測量輸出和返回路徑的損耗，傳輸損耗通過S21或S12測量。是插入損耗的兩倍(至少11.4dB)，這降低了矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的有效靈敏度和動態(tài)范圍。假定測量一個有線/地面廣播電視用低噪聲放大器的S21，如Maxim公司的MAX3558四路低噪聲放大器。將被測器件插入檢測裝置，輸入和輸出均有MLP，如圖2所示。然后校準(zhǔn)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,不包括MLP.將端口1和一個MLP的50W端口相連，而將75W端口與LNA的輸入相連。相同的情況也適用于另一個輸出和VNA的端口2。測量S21(前饋增益)時，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀在500MHz頻率處會指示一個接近-5dB的增益。來自兩個MLP及其連接器/適配器的插入損耗為11.5或12.0dB，LNA提供給75W的功率增益是7dB。S12(反向隔離)的測量就沒有那么直觀。這些低噪聲放大器的隔離參數(shù)是65dB，考慮到兩個MLP帶來的額外損耗，矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀本身需有77dB的S12。如果不仔細的話，會由于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀接收端的功率太小而導(dǎo)致無法測量。所以，接收端的功率(端口1的功率)要比矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的噪聲/內(nèi)部隔離至少高10dB，如果沒有隔離校準(zhǔn)，大概是-100dBm。因此需要設(shè)定源端口的功率至少是-20dBm，其值是-10dBm或0dBm。當(dāng)端口1有足夠的接收功率時，就可以進行測量:在測量值上增加12dB表示插入損耗。也就是說，-77dB的測量值在被測器件看來變成了-65dB。MAX3558評估板上提供有焊盤，允許工程師在PCB上插入他們自已想要的損耗焊盤。值得注意的是，必須用50WSMA接頭或類似產(chǎn)品替代75WF型連接器。在頻率為幾百兆赫茲時，由0402電阻建立起來的PCB板上MLP會產(chǎn)生測量的準(zhǔn)確性問題。寄生效應(yīng)會破壞先前的假設(shè)條件，也即這個網(wǎng)絡(luò)是純電阻網(wǎng)絡(luò)，類似的情況就需要用更復(fù)雜的方法。其中一種方法是完全測定MLP的特性，并且用Smith圓圖標(biāo)定匹配電路帶來的影響。另一種解決辦法是使用由電感組成的轉(zhuǎn)換器進行阻抗變換，這樣能減少損耗。射頻轉(zhuǎn)換器通常由它們的阻抗轉(zhuǎn)換率來表示，而不是轉(zhuǎn)換比率，所以經(jīng)常會有"1.5:1"出現(xiàn)。對頻率小于1GHz實驗系統(tǒng)來說，由1%0402或類似電阻組成的PCB板上MLP提供了一種快速、簡便測試75W電路的方法。通常,需要更正的參數(shù)是M