第5講.錐偏光鏡下透明礦物的晶體光學(xué)特征●錐偏光鏡的裝置特點(diǎn)●一軸晶干涉圖的特征、成因及應(yīng)用●二軸晶干涉圖的特征、成因及應(yīng)用●干涉圖色散觀察●錐偏光鏡的裝置特點(diǎn)平行光錐形光加入上偏光加入勃氏鏡（可不加勃氏鏡，但須同時(shí)拔去目鏡）換用高倍物鏡加入聚光鏡●聚光鏡、物臺、物鏡、勃氏鏡和目鏡的中心要位于一條直線上下偏光鏡物鏡數(shù)值孔徑觀察薄片θ高倍物鏡物鏡數(shù)值孔徑N.A.=nsinθθ為物鏡光孔角n為物鏡與薄片間介質(zhì)的折射率當(dāng)介質(zhì)為空氣時(shí),n≈1，此時(shí)高倍物鏡N.A.=0.65—0.85中低倍物鏡N.A.<0.4●物鏡接納光線的多少與其數(shù)值孔徑有關(guān)●錐光觀察時(shí)均用高倍物鏡中低倍物鏡工作距離●高倍鏡時(shí)工作距離很短，一定要小心操作！●干涉圖偏光顯微鏡下觀察到的礦物光學(xué)性質(zhì)，是垂直光波傳播方向的切面所顯示的光學(xué)性質(zhì)由于錐形偏光從不同的方向入射礦片，會在同一礦片中觀察到不同方向切面的光學(xué)性質(zhì)在錐偏光鏡下能同時(shí)觀察到不同方向切面的消光和干涉現(xiàn)象，這些方向不同，且方向連續(xù)過渡變化的所有切面的消光和干涉現(xiàn)象稱為干涉圖干涉圖錐光鏡研究內(nèi)容—

軸性、光性、2V、切面方向●錐光鏡下的觀察對象—

干涉圖由錐形入射光的干涉和消光現(xiàn)象形成的綜合圖形稱干涉圖●區(qū)分均質(zhì)體和非均質(zhì)體

●均質(zhì)體無干涉圖，旋轉(zhuǎn)物臺，視域始終黑暗

●非均質(zhì)體任何切面都會產(chǎn)生干涉圖。干涉圖的圖形特征主要與軸性和切面方向有關(guān)，其次與2V角、折射率等有關(guān)，而與光性正負(fù)無關(guān)●一軸晶干涉圖特征成因應(yīng)用●一軸晶干涉圖的特征、成因及其應(yīng)用■干涉圖的圖象特征■干涉圖的成因

■

干涉圖的應(yīng)用■一軸晶正光性光率體三種主要的切面類型Ne●垂直O(jiān)A●平行OA●斜交OANoNoNoNoNe’■一軸晶負(fù)光性光率體三種主要的切面類型●垂直O(jiān)A●平行OA●斜交OANoNoNoNe’NeNo●一軸晶垂直光軸OA切面的干涉圖干涉圖特點(diǎn)：黑十字和同心環(huán)狀干涉色圈旋轉(zhuǎn)物臺360°，干涉圖像不發(fā)生變化OA出露點(diǎn)，OA與切面的交點(diǎn)同心環(huán)狀干涉色圈黑十字帶分別平行PP、AA●⊥OA干涉圖圖形基本特點(diǎn)●十字消光影、同心干涉色圈，中心為OA出露點(diǎn)。最重要的是消光影！●旋轉(zhuǎn)物臺，干涉圖不變。方解石⊥OA干涉圖石英⊥OA干涉圖圖形意義●礦物為一軸晶●切面為⊥OA的切面●可用以判別光性正負(fù)●在正交鏡下，無法區(qū)分全消光顆粒是均質(zhì)體還是非均質(zhì)體⊥OA的切面，可按此區(qū)分高雙折率低雙折率光軸樣品光率體主切面聚光鏡物鏡透過礦物的每一光線具有不同的光程差垂直O(jiān)A切面干涉圖成因垂直O(jiān)A切面干涉圖成因平行光軸以外的任意一條入射光線斜交光軸光軸＝C－軸光線從一軸正光性光率體中心傳播常光No垂直C軸振動構(gòu)成球面上緯度線，非常光Ne平行C軸振動構(gòu)成球面上經(jīng)度線垂直O(jiān)A切面干涉圖成因⊥OA切面干涉圖成因NeNeNeNeNoNoNoNoNoNe⊥OA切面干涉圖的應(yīng)用●確定切面方位●確定軸性

●確定礦物光性符號NoNeNeNeNeNeNeNeNeNoNoNoNoNoNoNo●用⊥OA干涉圖判別光性正負(fù)—插入試板一三象限干涉色升高二四象限干涉色降低一三象限干涉色降低二四象限干涉色升高λ/4高雙折率低雙折率λ/41λ1λ正光性正光性負(fù)光性負(fù)光性低雙折率●出現(xiàn)消色斑象限干涉色降低！正光性負(fù)光性負(fù)光性λ/4λ/4●確定礦物光性符號●一軸晶斜交光軸OA切面的干涉圖■干涉圖的圖象特征■干涉圖的成因

■干涉圖的應(yīng)用■干涉圖的圖象特征■干涉圖的成因●⊥OA干涉圖逆時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)OA出露點(diǎn)不在視域內(nèi)，判斷象限后也可用來判別光性正負(fù)逆時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)OA出露點(diǎn)仍在視域內(nèi)，可看做是⊥OA的干涉圖斜交OA切面干涉圖的應(yīng)用●確定切面方位●確定軸性●確定礦物光性符號●一軸晶平行光軸OA切面的干涉圖■干涉圖的圖象特征■干涉圖的成因

■干涉圖的應(yīng)用■干涉圖的圖象特征●∥OA干涉圖—瞬變干涉圖，閃圖●意義可確定切面∥OA

在該切面上，用正交鏡可觀察最高干涉色，確定Ne和No方向最后可用單偏光鏡測多色性公式通常不用此圖測光性正負(fù)●本干涉圖與二軸晶∥OAP干涉圖不易區(qū)分0°位置5±°位置45°位置No干涉色升高方向Ne干涉色降低方向●二軸晶干涉圖的特征成因及其應(yīng)用●二軸晶干涉圖的特征、成因及其應(yīng)用■干涉圖的圖象特征■干涉圖的成因

■干涉圖的應(yīng)用二軸晶光率體：主切面二軸晶光率體的主要要素偏光顯微鏡技術(shù)●二軸晶光率體的切面類型垂直O(jiān)A的切面平行OAP的切面垂直Bxa的切面（＋）垂直Bxa的切面（－）垂直Bxo的切面（＋）垂直Bxo的切面（－）任意斜交切面垂直O(jiān)AP的斜交切面●二軸晶垂直Bxa切面的干涉圖■干涉圖的圖象特征■干涉圖的成因

■干涉圖的應(yīng)用■干涉圖的圖象特征■干涉圖的圖象特征■干涉圖的圖象特征旋轉(zhuǎn)45°●⊥Bxa干涉圖0°位置45°位置90°位置135°位置0°位置OAP跡線OA露點(diǎn)OA露點(diǎn)2VBxa露點(diǎn)Nm方向Bxa露點(diǎn)OA露點(diǎn)OA露點(diǎn)Nm方向2V45°位置OAP跡線●當(dāng)2V角較大時(shí)，在45位置將看不到雙曲線消光影●雙折率很小時(shí)干涉圖中將無干涉色色圈■干涉圖的成因干涉色圈的成因■垂直Bxa切面干涉圖的應(yīng)用●確定切面方位●確定軸性

●確定礦物光性符號●測定光軸角大小1、可確定觀察礦物為二軸晶，切面方向⊥Bxa2、可測2V角大小3、可測光性正負(fù)正光性時(shí)切面含Nm、Np軸；負(fù)光性時(shí)切面含Nm、Ng軸SinV=D·N.A.／R·NmV—半光軸角D—雙曲線消光影兩頂點(diǎn)間距離R—視域直徑Nm—由單偏光鏡下的突起估計(jì)用⊥Bxa干涉圖測2V角●若2V角較大，可用逸出角法測2VOA露點(diǎn)OA露點(diǎn)DR●⊥Bxa干涉圖的意義●用⊥Bxa干涉圖確定光性正負(fù)—45°位插入試板1λ1λ降低為Ⅰ級黃降低為Ⅰ級黃升高為Ⅱ級藍(lán)降低為Ⅰ級黃升高為Ⅱ級藍(lán)升高為Ⅱ級藍(lán)45°位正光性負(fù)光性●也可插入云母試板，出現(xiàn)消色斑的象限干涉色降低！一三象限干涉色升高二四象限干涉色降低一三象限干涉色降低二四象限干涉色升高正光性負(fù)光性確定光性符號●⊥Bxa

干涉圖0°位置45°位置●本干涉圖可用來測光性正負(fù)，但不能測2V角大小●二軸晶垂直O(jiān)A切面的干涉圖■干涉圖的圖象特征■干涉圖的成因

■干涉圖的應(yīng)用■干涉圖的圖象特征2V<30°旋轉(zhuǎn)45°2V>50°干涉圖■垂直O(jiān)A切面干涉圖的應(yīng)用

●確定切面方位●確定軸性

●確定礦物光性符號●測定光軸角大小●測定光軸角大小0°45°90°135°180°225°270°315°OA露點(diǎn)OAP跡線Bxa露點(diǎn)Nm方向●⊥OA干涉圖1、可確定觀察礦物為二軸晶，切面方向⊥OA，在單偏光鏡下可看Nm的顏色2、可測2V角大小3、可測光性正負(fù)90°60°30°用消光影估計(jì)2V角1λ1λ負(fù)光性正光性用石膏試板測光性也可用云母試板測光性，出現(xiàn)消色斑的象限干涉色降低！一三象限干涉色升高二四象限干涉色降低一三象限干涉色降低二四象限干涉色升高正光性負(fù)光性●⊥OA干涉圖的意義●⊥OA干涉圖（⊥OAP）●本類干涉圖可看成是⊥OA的干涉圖，可用來測光性正負(fù)，但不能測2V角大?。∧鏁r(shí)針方向旋轉(zhuǎn)360°，相鄰圖相差45°●⊥OA干涉圖（⊥OAP）逆時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)360°，相鄰圖相差45°●二軸晶垂直Bxo切面的干涉圖■干涉圖的圖象特征■干涉圖的成因

■干涉圖的應(yīng)用■干涉圖的圖象特征●⊥Bxo干涉圖0°位置干涉色降低方向OAP跡線=Bxa45°位置干涉色升高方向Nm●⊥Bxo干涉圖的意義

1、可確定為二軸晶，切面⊥Bxo；如2V角不大，可測光性正負(fù)

2、正光性時(shí)切面含NgNm軸；負(fù)光性時(shí)含NpNm軸，可在單偏鏡下觀察它們的顏色●相似干涉圖：

1、⊥Bxa干涉圖（當(dāng)2V角很大時(shí)）

2、∥OAP干涉圖（當(dāng)2V角很小時(shí)）●用⊥Bxo干涉圖測光性正負(fù)干涉色降低方向OAP跡線=Bxa干涉色升高方向Nm45°位置負(fù)光性正光性▲通常不用此干涉圖測光性！λ／4中心部位干涉色升高Nm=短軸，Bxa=Ngλ／4中心部位干涉色降低Nm=長軸，Bxa=Np●二軸晶平行OAP切面的干涉圖■干涉圖的圖象特征■干涉圖的成因

■干涉圖的應(yīng)用■干涉圖的圖象特征閃圖或者瞬變干涉圖0°位為粗大模糊黑十字45°位干涉色最亮，且呈對稱分布一對對頂象限，由中部向外降低另一對對頂象限，由中部向外升高●∥OAP干涉圖——

閃圖、瞬變干涉圖0°位置5±°位置45°位置●相似干涉圖：一軸晶∥OA干涉圖二軸晶⊥Bxo干涉圖（2V很小時(shí)）干涉色升高方向Bxo干涉色降低方向Bxa●干涉圖意義——

如能肯定是二軸晶，則可確定切面平行OAP；可測光性正負(fù)在本切面上可在正交鏡下觀察最高干涉色在單偏光鏡下觀察Ng、Np的顏色●用∥OAP干涉圖測光性正負(fù)▲通常不用此圖測光性正負(fù)！λ／4λ／445°位置干涉色升高方向Bxo干涉色降低方向Bxa負(fù)光性正光性中心部位干涉色升高---Bxa=短軸中心部位干涉色降低---Bxa=長軸▲⊥ICO干涉圖[注]ICO—指光軸面與圓切面的交線順時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)360°，相鄰圖相差45°tan2V=ND／2dN.A.式中N為晶體折射率，可在單偏光鏡下估計(jì)N.A.為物鏡數(shù)值孔徑●當(dāng)2V角較小時(shí)，45°位置將看不到消光影！dDICO出露點(diǎn)●當(dāng)2V角很大時(shí)，可用下式測2V注：鄔金華，二軸晶臨界干涉圖的發(fā)現(xiàn)及其消光影特征，礦物學(xué)報(bào)，1998，Vol18，No3●二軸晶平行一個主軸切面的干涉圖■干涉圖的圖象特征■干涉圖的成因

■干涉圖的應(yīng)用●二軸晶斜交主軸切面的干涉圖■干涉圖的圖象特征■干涉圖的成因

■干涉圖的應(yīng)用任意晶體的任意切面干涉圖不與任何特定方向垂直或近垂直的切面干涉圖，如無法判別其軸性和切面方向，均無利用價(jià)值！●干涉圖色散

——自學(xué)系統(tǒng)鑒定●系統(tǒng)鑒定——運(yùn)用偏光顯微鏡全面鑒定礦物在單偏光、正交偏光和錐光鏡下所有光學(xué)特征，從而確定礦物屬種，稱為系統(tǒng)鑒定▲鑒定步驟和內(nèi)容總的步驟是：單偏光--正交偏光--錐光，但常常須交叉進(jìn)行鑒定內(nèi)容：單偏光晶形突起顏色和多色性解理正交偏光最高干涉色消光類型和消光角延性雙晶、環(huán)帶等錐光軸性光性2V角切面方向▲最重要的是單偏光和正交偏光下的鑒定！▲實(shí)際工作中，受條件限制，某些內(nèi)容可能無法確切鑒定！礦物光學(xué)性質(zhì)的一般描述▲