GB∕T 25758.1-2010 無損檢測 工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性 第1部分：掃描方法_第1頁
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無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性I ——第5部分：小焦點和微焦點X射線管本部分為GB/T25758的第1部分。本部分等同采用EN12543-1:1999《無損檢測工業(yè)X射線系統(tǒng)焦點特性第1部分：掃描方法》Ⅱ掃描方法(GB/T25758.1)適用于強度分布和焦點尺寸恒定的場合，例如用于校準及圖像處理1h數(shù)據(jù)采集通過以一定的步長進行線掃描來完成(如圖3)。步長取決于分辨力要求，但不應(yīng)超過L>20×(a/d)×h (1)2射線探測器工作的X射線電壓范圍，應(yīng)在10kV至所測射線管的標稱電壓之間。在焦點光強分布繪圖軟件應(yīng)能繪制等劑線圖(圖6)。圖3和圖5給出了有關(guān)射線強度分布的附加信息，在計算機焦點的尺寸應(yīng)從等劑線圖上最大光強的10%處確定(見圖6)。采用射線管軸線方向上的長度l和垂直于X射線管軸線方向的寬度w來確定焦點尺寸。X射線管焦點尺寸d的規(guī)格應(yīng)參考GB/T25758的本部分。 35x—6表A.1推薦值d

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