1、一實驗?zāi)康胊. 學(xué)會簡單光學(xué)系統(tǒng)得共軸調(diào)節(jié)b. 掌握幾種測量薄透鏡焦距得方法二實驗儀器光具座及配件，凸透鏡，凹透鏡，平面反射鏡三實驗原理四一、凸透鏡焦距得測定、粗略估測法：以太陽光或較遠(yuǎn)得燈光為光源，用凸透鏡將其發(fā)出得光線聚成一光點( 或像），此時，, 即該點（或像）可認(rèn)為就是焦點, 而光點到透鏡中心 ( 光心）得距離，即為凸透鏡得焦距 , 此法測量得誤差約在10左右 . 由于這種方法誤差較大，大都用在實驗前作粗略估計 , 如挑選透鏡等。2 、利用物象公式求焦距 :五在近軸光線得條件下，薄透鏡成像得高斯公式為()六當(dāng)將薄透鏡置于空氣中時, 則焦距(2)（ 2) 式中 , 為像方焦距 ; 為物方

2、焦距；為像距 ; 為物距。式中得各線距均從透鏡中心 ( 光心 ) 量起 , 與光線進(jìn)行方向一致為正 , 反之為負(fù) , 如圖所示。若在實驗中分別測出物距與像距，即可用式 (2) 求出該透鏡得焦距。但應(yīng)注意 : 測得量須添加符號 , 求得量則根據(jù)求得結(jié)果中得符號判斷其物理意義 . 3、自準(zhǔn)直法 :如圖所示，在待測透鏡得一側(cè)放置被光源照明得 1 字形物屏 a, 在另一側(cè)放一平面反射鏡 m,移動透鏡 ( 或物屏） , 當(dāng)物屏正好位于凸透鏡之前得焦平面時，物屏 ab上任一點發(fā)出得光線經(jīng)透鏡折射后，將變?yōu)槠叫泄饩€，然后被平面反射鏡反射回來。 再經(jīng)透鏡折射后 , 仍會聚在它得焦平面上， 即原物屏平面上，形成

3、一個與原物大小相等方向相反得倒立實像 ab。此時物屏到透鏡之間得距離，就就是待測透鏡得焦距，即（ 3）由于這個方法就是利用調(diào)節(jié)實驗裝置本身使之產(chǎn)生平行光以達(dá)到聚焦得目得 , 所以稱之為自準(zhǔn)法，該法測量誤差在 %5%之間。4、 貝塞爾法 ( 又稱為共軛法、二次成像法 ) ：物像公式法、粗略估測法自準(zhǔn)法都因透鏡得中心位置不易確定而在測量中引進(jìn)誤差，為避免這一缺點， 可取物屏與像屏之間得距離d大于 4 倍焦距（4f), 且保持不變，沿光軸方向移動透鏡 , 則必能在像屏上觀察到二次成像。如圖 3 所示，設(shè)物距為 s 時，得放大得倒立實像； 物距為 s 時，得縮小得倒立實像 , 透鏡兩次成像之間得位移為

4、 d，根據(jù)透鏡成像公式 (2 ）, 將代入式（ 2）即得(4)可見，只要在光具座上確定物屏、 像屏以及透鏡二次成像時其滑座邊緣所在位置 , 就可較準(zhǔn)確得求出焦距。這種方法毋須考慮透鏡本身得厚度，測量誤差可達(dá)到 %。二、凹透鏡焦距得測定1、輔助透鏡成像法：如圖 4 所示，先使物發(fā)出得光線經(jīng)凸透鏡l1 后形成一大小適中得實像ab，然后在 l1 與 ab之間放入待測凹透鏡 l2 ，就能使虛物 ab產(chǎn)圖 4、 輔助透鏡成像法生一實像 ab。分別測出 2 到 b與 ab之間距離、，根據(jù)式（ 2）即可求出 l2 得像方焦距。四。實驗內(nèi)容1光學(xué)系統(tǒng)得共軸調(diào)節(jié)先利用水平尺將光具座導(dǎo)軌在實驗桌上調(diào)節(jié)成水平 ,

5、然后進(jìn)行各光學(xué)元件共軸等高得粗調(diào)與細(xì)調(diào) ( 用位移法得兩像中心重合或不同大小得實像中心重合或圖3 中對應(yīng)光軸點不動），直到各光學(xué)元件得光軸共軸, 并與光具座導(dǎo)軌平行為止.2.測凸透鏡得焦距()用物距，像距法測六次，每次測量應(yīng)改變物距 ,測量像距，分別代入公式 f，計算結(jié)果(2）用自準(zhǔn)法測六次求平均值,結(jié)果以 f 表示。（ 3)用位移法測 f 六次求平均值，結(jié)果以f 表示。3.測凹透鏡得焦距（）用物距 ,像距法測 f 六次，每次測量應(yīng)改變物距，測量像距，分別代入公式f，計算結(jié)果()用自準(zhǔn)法測 f 六次求平均值 ,結(jié)果以表示。注意：在測量凹透鏡得焦距時,同學(xué)經(jīng)常測得得數(shù)據(jù)誤差較大,原因主要有四個方面 :1、共軸沒有調(diào)好；、