電流表和電壓表GB/T7676.1—1998直接作用模擬指示電測量儀表及其附件第1部分：定義和通用要求GB/T7676.2—1998直接作用模擬指示電測量儀表及其附件第2部分：電流表和電壓表的特GB/T7676.9—1998直接作用模擬指示電測量儀表及其附件第9部分：推薦的試驗方法求第1部分：一般要求見JB/T9281的4.1～4.3。見GB/T7676.2的3.2。國家機械工業(yè)局1999-08-06批準2000-01-01實施見GB/T7676.1的4.1。見GB/T7676.2的4.2。見GB/T7676.1的4.2.1。見GB/T7676.1的4.2.2。耐振動和抗沖擊試驗的儀表，以及儀表正面部分最大尺寸小于150mm(對便攜式儀表)和小于超過等級指數(shù)的150%。4.3.1對影響量的標稱使用范圍列于GB/T7676.1的表Ⅱ-1和GB/T7676.2表Ⅱ-2中。4.3.2標稱使用范圍的其他規(guī)定見GB/T7676.1的5.1.2。a)光指示器式儀表，等級指數(shù)等于及小于0.3的儀表和便攜式張絲儀表見GB/T7676.1等級指數(shù)100%。見GB/T7676.1的5.3。見IEC61010-1的第10章。見IEC61010-1的第9章。見GB/T7676.2的6.1.1。見GB/T7676.1的6.2.1。見GB/T7676.2的6.2.3。見GB/T7676.1的6.3。見GB/T7676.2的6.4.1。在JB/T9281表1規(guī)定的環(huán)境溫度工作，不致引起永久性損壞，并符合GB/T7676.1的6.5.2見GB/T7676.2的6.6。見JB/T9281的4.1和5.1.2。見GB/T7676.1的7.1規(guī)定。見GB/T7676.1的7.2規(guī)定。見GB/T7676.2的7.4規(guī)定。4.5.4.2矛形指示器的尖端應蓋住標度尺上任一最短分度線長度25%～75%,刀形和絲形指示器的大見GB/T7676.1的7.5。見JB/T9281的5.2。為80萬次。4.5.8.1.3對未在產品技術條件和使用說明書中注明是否用于過程檢測的固定式儀表應同時滿足(MTTF)為3萬次。熱試驗條件見IEC61010-1的第4章。5.1基本誤差試驗方法按GB/T7676.9的2.1。5.2升降變差試驗方法按GB/T7676.9的2.1。5.3偏離零位試驗方法按GB/T75.4環(huán)境溫度試驗方法按GB/T7676.9的3.2。5.5濕度試驗方法按GB/T7676.9的3.3。5.6直流被測量中紋波試驗方法按GB/T7676.9的3.6。5.7交流被測量畸變試驗方法按GB/T7676.9的3.7.1。5.8交流被測量的頻率試驗方法按GB/T7676.9的3.8.1。5.9位置影響試驗方法按GB/T7676.9的3.4。5.10外磁場影響試驗方法按GB/T7676.9的3.5。5.11輔助電源影響試驗方法按GB/T7676.9的3.17,3.18。5.12鐵磁支架影響試驗方法按GB/T7676.9的3.1。5.15防電擊試驗按IEC61015.16耐熱試驗按IEC61010-1的第10章。5.20自熱試驗方法按GB/T7676.9的4.5.21連續(xù)過負載試驗方法按GB/T7676.9的4.6。5.22短時間過負載試驗方法按GB/T7676.9的4.4。5.26耐振動和抗沖擊儀表及附件試驗方法按JB/T9281的6.3.2和6.3.5.27對外殼防護試驗方法按JB/T每臺試驗時間h9、表2用于便攜式儀表及非過程檢測的固定式儀表的抽樣56每臺試驗時間h9345.30.2.2測量機構、轉換開關、電位器、彈性接插件的可靠性試驗應分別抽樣進5.30.3按表1進行試驗的程序1)按表1規(guī)定抽取的樣品在參比條件下進行不少于2h的預處理。5)按程序3)確定的偏轉次數(shù)重復程序4)。6)完成程序5)后將儀表指示器指示到量程的上極限并穩(wěn)定地偏轉直至試驗時間達到表1規(guī)定的7)重復程序1)。1)重復5.30.3的程序1)和2)。2)按表2的抽樣臺數(shù)確定偏轉次數(shù)。3)按5.30.3的程序4)的規(guī)定使儀表指示器偏轉重復程序2)規(guī)定的次數(shù)。4)重復5.30.3程序1)。1)重復5.30.1程序1)和2)。2)按表3抽樣臺數(shù)確定試驗時間和偏轉次數(shù)。3)按5.30.3程序4)重復程序2)的偏轉次數(shù)。到表3的規(guī)定時間止。5)重復程序1)。1)將樣品在參比條件下進行不少于2h的預處理。3)以抽樣臺數(shù)按表4確定旋轉次數(shù)。6)重復程序1)。7)按出廠檢驗(例行檢驗)項目對樣品進行檢測，并記錄失效數(shù)γ。6.1出廠檢驗(例行檢驗)位置影響防電擊(見5.15),(按IEC61010-1中4.1的規(guī)定確定)。6.2型式檢驗6.2.1新產品在樣品及批試鑒定時進行6.2.3成批生產間斷一年后又重新投產時進行。6.3周期性檢驗6.3.1每三年不少于一次的周期性檢驗6.3.2每年不少于一次周期性檢驗按附錄A(標準的附錄)規(guī)定項目進行。6.4可靠性驗證試驗的檢驗規(guī)則產品的關鍵結構或材料進行重大的修改時以及產品停產三年以上又恢復生產時，應重做可靠性驗6.5.1型式檢驗和周期性檢驗抽樣方案按GB/T2829選擇判別水平I,RQL=30的二次抽樣方案：即6.5.2可靠性驗證試驗的抽樣方案分別按5.30.2,表1,2,3,4中規(guī)定選擇抽樣樣品數(shù)隨機抽樣，并可按5.30.3規(guī)定替換有不合格的6.6不合格分類6.6.1定A類不合格為1,B類不合格為0.6,C類不合格為0.2。6.6.2試驗項目的不合格類別的劃分見附錄A(標準的附錄),對于一個樣品的某一個試驗項目發(fā)生一6.7檢驗結果的判定7.1.1通用標志和符號見GB/T7676.1的8.1,使用環(huán)境條件的分組見JB/T9281中的4.1。見GB/T7676.1的8.3。見GB/T7676.1第9章。裝箱單見JB/T9281的5.1.2及表2規(guī)定。見JB/T9281的6.1.3的規(guī)定。見JB/T9281的6.1.4的規(guī)定。見JB/T9281的6.1.5的規(guī)定。見JB/T9281的6.1.5的規(guī)定。7.4.1儀表及附件在非包裝條件下應存放在室內溫度為0℃~40℃,相對濕度應不大于85%,且空氣序號[用等級指數(shù)百分數(shù)不合格類別檢驗類別1C△△△ 防接觸封印C△△△GB/T7676.1的7.1C△△△C△△△2B△△△GB/T7676.9的2.13B△△△4B△△△5B△△GB/T7676.1表Ⅱ-16B△7直流被測量紋波影響B(tài)△8B△GB/T7676.9的3.7.19B△GB/T7676.9的3.8.1外磁場影響B(tài)△C△GB/T7676.1表Ⅱ-1C△GB/T7676.1表Ⅱ-1位置影響B(tài)△△△GB/T7676.1表Ⅱ-1B△GB/T7676.9的3.1導電支架B△防電擊A●△△附錄KA△IEC61010-1第10章第10章A△IEC61010-1第9章C△GB/T7676.1的6.2.1響應時間B△△△K第9章