1、學(xué)年第二學(xué)期無機(jī)材料測(cè)試技術(shù)考試試卷A一、填空題（共25分，每空1分）1、第一個(gè)發(fā)現(xiàn)X射線的科學(xué)家是倫琴教授 ，第一個(gè)進(jìn)行X射線衍射實(shí)驗(yàn)的科學(xué)家是 愛迪生 。2、莫塞來定律反映了材料產(chǎn)生的 線譜頻率 與其 原子序數(shù) 的關(guān)系。3、同一元素的入K1、入K2、入K的相對(duì)大小依次為_12_；能量從小到大 的順序是_反過來_。(注：用不等式標(biāo)出)。4、X射線分析技術(shù)的方法有： 粉末法， ；勞厄法 、 轉(zhuǎn)晶法 、 四園衍射法 、 等傾HYPERLINK /search?word=魏森&fr=qb_search_exp&ie=utf8魏森堡 。5、掃描電子顯微鏡的電子成像主要有 二次電子像 和 背散射電子像

2、 。6、像差分為HYPERLINK /view/1381746.htm色像差和幾何像差 兩類。7、XRD、TEM、SEM、DTA分別代表：X射線衍射 、 透射電鏡、 掃描電鏡 、 差熱分析法 。8、按激磁方式的不同，磁透鏡分為 恒磁透鏡 和電磁透鏡 。9、電子探針X射線顯微分析中常用X射線譜儀有波長(zhǎng)色散譜和 能量色散譜 。波普分析元素范圍為4Be92U，分辨率為5eV能譜分析范圍為11Na92U，分辨率為145155eV.10、測(cè)角儀在采集衍射圖時(shí)，如果試樣表面轉(zhuǎn)到與入射線成30角，則計(jì)數(shù)管與入射線所成角度為120 ；能產(chǎn)生衍射的晶面，與試樣的自由表面呈 關(guān)系。二、名詞解釋（共15分，每小題3

3、分）1、K系輻射：如果原子最內(nèi)層的K層一個(gè)電子被激發(fā)掉，而由鄰近的L層的電子躍入填補(bǔ)，則輻射K；由M層電子躍入填補(bǔ)K層則輻射K；由K，.共同形成的為K系輻射2、洛倫茲因數(shù)：表示掠射角對(duì)HYPERLINK /search?word=衍射&fr=qb_search_exp&ie=utf8衍射強(qiáng)度的影響。等于1/SinCos.3、熱重分析：TG，是指在程序控制溫度下測(cè)量待測(cè)樣品的質(zhì)量與溫度變化關(guān)系的一種HYPERLINK /view/351030.htm熱分析技術(shù)，用來研究材料的熱穩(wěn)定性和組份。4、景深和焦深：把透鏡物平面允許的軸向偏差定義為透鏡的景深。把透鏡像平面允許的軸向偏差定義為透鏡的焦深。5

4、、激發(fā)電壓：在特征X射線中，當(dāng)X射線管電壓加大到某一臨界值V時(shí)，高速運(yùn)動(dòng)的電子動(dòng)能足以將陽極物質(zhì)原子的K層電子激發(fā)出來，這個(gè)電壓叫做激發(fā)電壓。三、問答題與計(jì)算題（共40分，每題8分）1、如何選用濾波片材料和X射線管？實(shí)驗(yàn)中選擇X射線管的原則是為避免或減少產(chǎn)生熒光輻射。應(yīng)當(dāng)避免使用比樣品主元素的原子序數(shù)大26的材料最為靶材的X射線管。選擇濾波片的原則是X射線分析中，在X射線管與樣品之間的一個(gè)濾波片，以濾掉K線。選材依耙的材料而定，一般采用比靶材的原子序數(shù)小1或2的材料。對(duì)于體心點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)的晶胞，當(dāng)X射線在原子列上反射時(shí)，為什么只有晶面指數(shù)滿足h+k+l為偶數(shù)的條件時(shí)，才會(huì)出現(xiàn)衍射？3、某陶瓷坯料經(jīng)

5、衍射定性分析為高嶺石、石英和長(zhǎng)石原料組成，秤取2.588g樣品做衍射實(shí)驗(yàn)，其中它們的最強(qiáng)線各為1864、923、620cps，已知參比強(qiáng)度各為3.4、2.7、4.2，定量各原料的含量。4、何為波譜儀和能譜儀？并比較波譜儀和能譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)。P1395、何謂電磁透鏡的像差？是怎樣產(chǎn)生的? 如何來消除和減少像差?由于透鏡材料的折射率是波長(zhǎng)的函數(shù)，由此而產(chǎn)生的像差。分為幾何像差，透鏡磁場(chǎng)幾何上的缺陷鎖產(chǎn)生，包括球差，像散和畸變。色差，有電子的波長(zhǎng)或能量非單一性所引起。通過機(jī)械，靜電或電磁式消像散器適當(dāng)?shù)丶右匝a(bǔ)償矯正。四、綜合分析題（共20分，每題10分）1、分析比較電子探針和離子探針和俄歇譜儀的分辨率、分析樣品表層深度和分析精、度。說明它們各自適用于分析哪類樣品。P133，p179，p168，2、試總