基于磁晶格法的構(gòu)件動態(tài)參數(shù)網(wǎng)絡(luò)定量檢驗設(shè)計目錄TOC\o"1-3"\h\u16677第一章緒論 摘要隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，在力學(xué)、機(jī)械等領(lǐng)域，對構(gòu)件動、靜態(tài)物理參數(shù)的檢測精度、速度、方便性和實用性的要求越來越高。隨著高效、昂貴且精密的機(jī)電融合一體化裝置的誕生與應(yīng)用,對其中主要構(gòu)件組成部分的運動參數(shù)及其構(gòu)件力學(xué)參數(shù)等進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)定量檢驗已經(jīng)極其需要。根據(jù)以上分析，本文提出了一種新的檢測方法一磁晶格法。該方法中，磁檢測器與構(gòu)件間非接觸，無導(dǎo)線連接，解決了傳統(tǒng)的電阻應(yīng)變片測試法難以克服的困難。本文簡單介紹了基于電磁品格法檢測的各種構(gòu)件動態(tài)參數(shù)的幾個主要基本原則;構(gòu)件線應(yīng)變和時間規(guī)劃計測量之間的一種數(shù)學(xué)模型;推導(dǎo)了這兩者之間的函數(shù)關(guān)系;設(shè)計了電子磁頻傳感器;介紹信號處理電路;基于8051單片機(jī)開發(fā)的定量檢測和自動化定量監(jiān)控處理系統(tǒng),完成了對信號和時間量的計測，實現(xiàn)了對應(yīng)變等等各種動態(tài)參數(shù)的計算、顯示等功能。所設(shè)計的檢測系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單、使用方便、檢測結(jié)果定量、自動化和智能化程度高。因此，本文的研究為機(jī)械測試領(lǐng)域中有關(guān)構(gòu)件應(yīng)力、應(yīng)變等物理參數(shù)的檢測開辟了一條新的技術(shù)途徑。關(guān)鍵詞：磁晶格，線應(yīng)變，單片機(jī)，虛擬儀器第一章緒論1.1課題的意義檢測技術(shù)在實際應(yīng)用中處于產(chǎn)品的檢驗與質(zhì)量管理控制的關(guān)鍵性階段。借助于檢測手段來對產(chǎn)品實施質(zhì)量評估是很多人非常熟悉的概念,它也是其中一個技術(shù)上的重點和應(yīng)用領(lǐng)域。因此，在現(xiàn)代的大環(huán)境中，隨時能檢測的方法已經(jīng)非常需要了。本次設(shè)計的檢測方法是磁晶格法檢測法，采用非接觸式，利用霍爾元件為主要元件制成檢測器，可以時時監(jiān)控、靜態(tài)或者動態(tài)數(shù)據(jù)的測量，大大提高了檢測結(jié)果的精度和準(zhǔn)確性。1.2國內(nèi)外旋轉(zhuǎn)構(gòu)件動態(tài)參數(shù)檢測的現(xiàn)狀1.2.1國內(nèi)外現(xiàn)狀就目前的檢測機(jī)械構(gòu)件參數(shù)(應(yīng)力應(yīng)變扭矩等)的技術(shù)，除了本次設(shè)計研究的磁品格法，還有金屬磁記憶檢測法、光柵法等。下面簡單介紹這幾種先進(jìn)的檢測動態(tài)多數(shù)的法。測量扭矩的磁彈性型扭矩傳感器就是運用鐵磁材料產(chǎn)生壓磁效應(yīng)的工作原理設(shè)計而成。通過這種變換的原理,研究開發(fā)了各種不同形式的磁彈性扭矩傳感器。1992年王榮等研制出了一種逆磁導(dǎo)向的伸縮式扭矩傳感器。日本福崗九州大學(xué)就通過這一原理開發(fā)研究生產(chǎn)出了一種新型的磁頭式扭矩傳感器間。光柵法測量扭矩，通過光柵的莫爾條紋現(xiàn)象能夠?qū)崿F(xiàn)對角位移嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臏y量。在軸的兩端分別裝一光柵副。當(dāng)構(gòu)件在受到扭矩M時，構(gòu)件開始產(chǎn)生扭轉(zhuǎn)和變形，最終可以得到多個角度。通過多個角度就可計算扭矩的大小。重慶大學(xué)對這個課題進(jìn)行了深入的研究，證明了實驗的可行性。金屬磁記憶檢測法的檢測原理:用一種鐵磁性材料設(shè)計制造的壓力容器在其工作中如果承受到了介質(zhì)的壓力,材料內(nèi)部對磁疇的取向就可能會產(chǎn)生相應(yīng)的改變,并且其表現(xiàn)是因為應(yīng)力較集中部分的局部磁場不正常,形成"漏磁場",而且當(dāng)工作負(fù)荷消失后依舊被保留并且與最大動力作用下的應(yīng)力相互聯(lián)系。磁記憶法的檢測方法是通過測量鐵磁體的漏磁場法向分量Hp來進(jìn)行應(yīng)力集中的檢測。研究結(jié)果表明,檢測過程中鐵磁體在其表面hp=0的線條與應(yīng)力集中的位置相互重合。1.3國內(nèi)外旋轉(zhuǎn)構(gòu)件其他參數(shù)測量的發(fā)展與現(xiàn)狀1.3.1應(yīng)變的測量（1）應(yīng)變測量的特點應(yīng)變計量是分析、研究各種機(jī)械結(jié)構(gòu)及其強(qiáng)度時的主要工具。在實現(xiàn)各種機(jī)械裝置的安全操作、自動化檢測和自動化控制中發(fā)揮了很大的作用。（2）應(yīng)變測量儀器與系統(tǒng)的發(fā)展現(xiàn)狀1943年，Hathway開發(fā)了基于載波振幅調(diào)制原理的電阻應(yīng)變計。由于高頻應(yīng)變儀上載波電阻值相對發(fā)生了頻率變化,橋的一個信號輸出輸入端會自動產(chǎn)生一個高頻調(diào)制波,由載波通過高頻交流信號放大器對其進(jìn)行載波放大,由高頻相位解調(diào)靈敏度信號檢測儀對其進(jìn)行相位解調(diào),恢復(fù)信號為一個與載波電阻值相對的頻率變化值并形成一定頻率比例的高頻調(diào)制振蕩信號△r/r。因為本機(jī)采用了基于傳統(tǒng)的高頻載波器和幅值信號調(diào)制處理方法的載波工作控制原理,所以可以避免直流放大器的零漂移問題。初始失真測量是使用這個方案進(jìn)行的。如圖1.5所示。圖1.5交流載波式電阻應(yīng)變儀方框圖隨著電阻式應(yīng)變器在工程科學(xué)和技術(shù)中得到廣泛使用,又研制出了不同的電壓適應(yīng)儀器。1946年,redshow總結(jié)了所有品種和數(shù)量的應(yīng)變器,劃分為一個靜態(tài)的單點,一個動態(tài)的多點,一個動態(tài)的單通道,一個動態(tài)的多通道四個部件。從太陽能半導(dǎo)體應(yīng)變器誕生以來，D.R.Harting于1963年根據(jù)半導(dǎo)體應(yīng)變儀的特性設(shè)計了半導(dǎo)體應(yīng)變儀專用應(yīng)變儀。1.3.2應(yīng)力的測量根據(jù)國際應(yīng)力干涉測量的基本原理,應(yīng)力干涉測量方法一般認(rèn)為可以分類劃分分別為彈性應(yīng)變波光電干涉測量法、光電波彈性干涉測量法、莫爾法、全息輻射干涉測量法和單色散斑全息干涉法、脆性涂覆法、鍍銅、磁致伸縮規(guī)法、X射線應(yīng)力測量法、熱彈測量法。應(yīng)力測量法、聲彈性應(yīng)力測量法、焦散線法等應(yīng)變電測定法的開發(fā)歷史相對久遠(yuǎn)，其適用范圍非常廣泛。用電阻應(yīng)變儀作為感測元件，將部分的物體表面電阻應(yīng)變相對變化系數(shù)轉(zhuǎn)換成稱為一個電阻相對變化應(yīng)變,使用稱為電阻相對應(yīng)變儀的測量儀器就可以把這個電阻相對變化系數(shù)轉(zhuǎn)換成稱為應(yīng)變電壓或者者說是應(yīng)變電流。然后,在我們進(jìn)行了一次放大和縮小檢測并且沒有所謂的記錄之后,將被測的檢測器受到的線性應(yīng)力進(jìn)行轉(zhuǎn)換轉(zhuǎn)化為一定的應(yīng)力。這種方法從1936年以來發(fā)展迅速，廣泛的用于機(jī)械和結(jié)構(gòu)的應(yīng)力測量。但是，很難檢測旋轉(zhuǎn)組件的動態(tài)參數(shù)。1.3.3轉(zhuǎn)速的測量系統(tǒng)內(nèi)的速度和旋轉(zhuǎn)機(jī)械組件是測量的重要參數(shù)。目前，許多工程用于測量機(jī)器的旋轉(zhuǎn)速度，如機(jī)械柔性軸千分尺、電壓頻率變換千分尺、數(shù)字千分尺等。成本非常高，精度低，工藝復(fù)雜，可靠性不高。速度的測量方法可以大致分為模擬式和數(shù)字式兩種。模擬類型是將測距計發(fā)生器作為檢測元件，得到的信號是電壓量。由于數(shù)字將脈沖信號作為檢測元件，所以通常使用光電轉(zhuǎn)換盤或霍爾元件等。通過用霍爾元件測量速度，可以避免上述缺點?；魻柺絺鞲衅髟谠O(shè)計上具有非接觸、使用時間長、可靠性高、不產(chǎn)生火花、不帶任何電磁波振蕩、良好的溫度穩(wěn)定性能、強(qiáng)大的防污染性能、簡單結(jié)構(gòu)、堅固、小型、耐沖擊性等優(yōu)勢,所以設(shè)計的傳感器具有與霍爾效應(yīng)傳感器相似的優(yōu)勢。第二章電磁檢測系統(tǒng)的基本原理2.1旋轉(zhuǎn)構(gòu)件動態(tài)參數(shù)在現(xiàn)代產(chǎn)業(yè)中，隨著大規(guī)模、高速、自動化、連續(xù)生產(chǎn)的發(fā)展，特別是對于采用石油、化學(xué)、電力、鋼鐵以及單一機(jī)械的其他企業(yè)來說，旋轉(zhuǎn)部件的性能越來越嚴(yán)格。全負(fù)荷及連續(xù)生產(chǎn)操作模式。如果發(fā)生關(guān)機(jī)故障，不僅會造成大的經(jīng)濟(jì)損失，還會引起重大傷亡事故。因此，非常需要動態(tài)參數(shù)數(shù)據(jù)，如角速度、剪切應(yīng)變、剪切應(yīng)力、扭矩、軸輸出等，以及旋轉(zhuǎn)部件在動作過程中的變化，特別是在啟動、加速過程中的這些變化的實時和定量檢測減速及反轉(zhuǎn)狀態(tài)。所謂磁柵，是指測量部件表面的磁化磁標(biāo)，即磁性標(biāo)度的特定波長。需要檢測的物理能量通過電磁信號和它們的再生信號(數(shù)碼信號)搬運,實現(xiàn)對機(jī)械能量的測試。在工程中利用非接觸式檢測、數(shù)字信號的傳輸、信號的獲取、處理、傳遞或者反饋等手段來防止和減少各種噪聲信號以及傳入錯誤與測試失敗發(fā)生的檢測方法是對高精度、可靠性的測試結(jié)果、對于測試范圍內(nèi)的結(jié)果、動態(tài)效果以及靜態(tài)效果與應(yīng)用程序都有著嚴(yán)格的要求。因此,我們將進(jìn)一步開辟組件負(fù)載狀態(tài)下的應(yīng)變測試新領(lǐng)域。用于測量旋轉(zhuǎn)組件的組件失真的磁格子法的基本原理如下。特定強(qiáng)度和特定數(shù)量的磁跡在測定組件的周面兩處以軸向距離L進(jìn)行磁化。零件的外圍嵌入了鋼鐵。磁性跟蹤或磁性鋼的數(shù)量為n（n為偶數(shù)）。兩個類似的磁道或磁鋼與軸的中心線之間的角度為θ(θ=2π/N），軌道或磁鋼之間的弧長為波長。這些磁性痕跡或磁性鋼在磁柵的軸圓周組成表面上。另一種方法是記錄帶上的波長λ磁柵的磁化強(qiáng)度取決于軸的表面，沿著圓周方向以L的軸間隔粘貼在兩個地方.由附近的磁傳感器檢測器制作.如圖2.1所示，軸方向的磁化下的H1、H2是旋轉(zhuǎn)軸內(nèi)的軌道上的軸部件在經(jīng)由磁檢測器產(chǎn)生用于檢測磁網(wǎng)格信號電壓輸出信號的檢測器之后，確定電壓輸出信號頻率f和軸旋轉(zhuǎn)角速度0的明顯參數(shù)。磁化軸的情況下，a是恒定的。因此，磁檢測器的輸出電壓信號的頻率f與軸的旋轉(zhuǎn)角速度0成比例。當(dāng)構(gòu)件在旋轉(zhuǎn)狀態(tài)受到圓周力的情況如圖2-1(b)所示，（a）（b）圖2.1電磁定量檢測基本原理圖兩個檢測器的輸出幅度和頻率保持不變，因為通過軌道的磁檢測器在圓的相同圓周上的分量不會導(dǎo)致軌道距離的變化然而，兩個檢測器的輸出信號之間存在相位差，這是因為兩個檢測器的輸出信號在不同時間的同一軌道之后會導(dǎo)致電壓信號的相位差。測量的信號波形t如圖2.2（a）所示。從上述實驗中可以看出，相位差是由軸的旋轉(zhuǎn)角速度和軸的畸變所產(chǎn)生的剪切應(yīng)變引起的。如果將相位差T相對于信號周期t/T的比率作為檢測量，則其比率僅與軸的剪切應(yīng)力成比例。因此，可以根據(jù)檢測量t的大小可以來計算軸的剪應(yīng)變，并且可以基于該剪應(yīng)變來計算軸的剪應(yīng)力、扭矩和軸功率。圖2.2檢測信號波形及其轉(zhuǎn)換那么，如何提取圖2.2（b）中有用的信息呢？調(diào)查后，通過邏輯運算分離信號進(jìn)行處理比較嚴(yán)謹(jǐn)。可以執(zhí)行圖2.2（b）中H1和H2的矩形波信號的邏輯或者運算，也可以執(zhí)行邏輯異或運算。由于邏輯異或運算可以直接獲得相位差t和周期T的值。使用同一原則，使用另一種方法-邏輯或操作用于詳細(xì)說明。通過邏輯運算或運算，可得到如圖2.2（c）所示的矩形波信號。Pi表示從矩形波信號H1的上升邊緣到矩形波信號H2的下降邊緣的高電平期間，Qi表示從矩形波信號H1的上升邊緣到信號的下降邊緣的低電平期間。矩形波信號H2.則上述Pi和Qi為2λ波長在組件表面每旋轉(zhuǎn)一次就會顯示一次。原來的信號（圖2.3（a）的Ti）的相位差在使用轉(zhuǎn)換處理和轉(zhuǎn)換檢測信號時可以放大到2倍（圖2.3（c）的Pi-Qi）。用于提高檢測系統(tǒng)精度的電路。2.3旋轉(zhuǎn)構(gòu)件各動態(tài)參數(shù)與時域檢測值的關(guān)系邏輯和運算后的參數(shù)和檢測動態(tài)參數(shù)的關(guān)系是什么呢？給出以下具體的過程，得出一般的結(jié)論。n（n是偶數(shù)）表示部件的周面上的經(jīng)磁化磁道的數(shù)量λ表示相鄰磁道的波長（即相鄰N和S軌道的電弧間隔），Ti表示檢測。信號周期，Ti表示兩個檢測信號之間的相位差，R表示軸的半徑，Wi表示軸在力矩I上的旋轉(zhuǎn)角速度。(2-2)(2-2)(2-3)式中ri是旋轉(zhuǎn)構(gòu)件的剪應(yīng)變;l是檢測器之間的距離。由(2–2)和(2–3)得:(2-4)所以i時刻軸件剪應(yīng)變:(2-5)在式(2–5)中，由于λ、l都是常量，因此軸件的剪應(yīng)變由兩檢測信號的相位差與信號周期的比值決定，通過圖2.3可得比值，即：·(2－6)將式(2－6)代入式(2－5)得軸件剪應(yīng)變的表達(dá)式：(2－7)由材料力學(xué)得到軸件圓周邊各點的剪應(yīng)力為：(2－8)用表示軸件的抗扭截面模量，則作用于軸件上的扭矩可按下式計算：··(2－9)由式(2－9)可進(jìn)一步得軸件的軸功率為：=·=··(2－10)式中的ωi為軸件旋轉(zhuǎn)的角速度，按下式計算：(2－11)由上面推導(dǎo)的公式我們可以看出，剪應(yīng)變、應(yīng)力、扭矩和軸功率都可以有從實驗中得到結(jié)果。在上面的計算公式中，未知量只有P和Qi，R、G、Wn、n、l、λ都是已知量，是常用到的物理系數(shù)，因此只要測量出檢測信號的高低電平的時間量P和Q，那么就可以根據(jù)上面推導(dǎo)的公式算出構(gòu)件的動態(tài)參數(shù)。軸件每轉(zhuǎn)動過一個信號的周期T，數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)就可以計測一次P、Q值，通過(2-7)—(2-11)可以進(jìn)行計算，得出應(yīng)變、應(yīng)力、扭矩和軸功率。然后求出這幾個周期中P,、Q,的時間和再進(jìn)行取平均，這樣也可以增加檢測的精度，避免由于偶然原因造成的錯誤。2.4系統(tǒng)誤差的消除圖2.3構(gòu)件未受力時檢測器輸出信號波形圖通過測試，兩個檢測頭H1、H2的位置與軌道線平行的位置之間的關(guān)系在初始位置困難時，特別是在旋轉(zhuǎn)部件的應(yīng)變較小時會發(fā)生檢測系統(tǒng)錯誤。測試數(shù)據(jù)系統(tǒng)錯誤的影響不可忽視，因此無法避免排除系統(tǒng)錯誤。為了消除檢測器設(shè)置造成的誤差，動態(tài)參數(shù)與時間之間的更一般的關(guān)系如下所示。如果將兩個磁頭和被測量部件的初始相位差設(shè)為t0，則部件不施加壓力時的兩個檢測頭H1、H2的輸出波形如圖2.3所示。為了簡化表示，圖2.3的邏輯或后信號的高電平期間用P表示，低電平期間用Q表示。用To表示信號的周期，用t0表示相位差的時間信號。當(dāng)H2信號比H1信號超前時，兩個磁頭和測試對象的組件之間的初始相位差為＞0，此時t0為正。H2比H1晚時，t0為負(fù)。由圖中的關(guān)系可得出：|t|＝(2－12)消除誤差后的相位差時間記為Δt，則由圖2－2、2－3可以得出：Δt＝t-t(2－13)t＝(2－14)由式（2－12）（2－13）（2－14）得：2Δt＝-2t(2-15)把式（2－15）帶入式(2–7)得剪應(yīng)變表達(dá)式：=(2-16)把式（2－15）帶入式(2–8)得各點的剪應(yīng)力表達(dá)式:(2-17)把式（2－15）帶入式(2–9)得作用于軸件上的扭矩再通過下式進(jìn)行計算：··(2-18)把式（2－15）帶入式(2–10)得軸功率為：=·=··(2-19)式中的ωi為軸件的角速度，再通過（2－11）式進(jìn)行計算：(2-11)經(jīng)過上述推導(dǎo)，就可以有效的消除系統(tǒng)初始的系統(tǒng)誤差，對降低本檢測系統(tǒng)的誤差起到了很關(guān)鍵的作用。第三章磁化技術(shù)與磁檢測器的設(shè)計3.1磁化技術(shù)磁性無損檢測(NDT)主要是將無損檢測定輸出來的物理能量或者狀態(tài)信號轉(zhuǎn)換成一種可以用來作為磁場介質(zhì)進(jìn)行測量的無損磁場信號,將其經(jīng)磁電轉(zhuǎn)換裝置或者磁電傳感器轉(zhuǎn)換成相對應(yīng)的無損電信號,進(jìn)行必要的分析及處理。磁性檢查主要指對材料及其磁性在電路中的磁特性進(jìn)行檢測、衡量或評估。因此,檢測技術(shù)是由磁場信號的產(chǎn)生與形成和對磁場信號進(jìn)行測量兩方面組成,電信號的研究與分析及其處理也是它的核心,是新型材料、新構(gòu)件、新工藝以及它們的綜合應(yīng)用。該項技術(shù)最顯著特點就在于它采用了計算機(jī)信息處理。3.1.1磁化原理在磁性無損檢測技術(shù)中，磁性是實現(xiàn)檢查的第一步。這決定了測量對象是否能生成測量信號和可分離磁場信號的足夠強(qiáng)度，也影響測試信號的性能特性和測試設(shè)備的構(gòu)造特性。磁場中的物質(zhì)，由于磁場的影響，總是顯示出特定的磁性。這種現(xiàn)象被稱為磁化?？梢源呕奈镔|(zhì)叫做磁介質(zhì)。包括空氣在內(nèi)的所有物質(zhì)都可以磁化，因此是磁介質(zhì)。物質(zhì)的磁性是由電子的軌道運動和旋轉(zhuǎn)運動產(chǎn)生的。如果不存在外部磁場，則物質(zhì)自身的自旋和軌道的磁矩合計為零，因此對象本身不顯示磁性。在外部磁場的影響下，磁區(qū)會旋轉(zhuǎn)或反轉(zhuǎn)，因此從外部看上去帶有磁性。3.1.2磁化方式磁化方式按所用勵磁磁源分為下述幾種:（1）在交流磁化被測量成分中，交流磁場容易產(chǎn)生表皮效應(yīng)和渦流，但是交流磁化強(qiáng)度容易控制，是容易獲得50Hz的高功率交流電流源的結(jié)構(gòu)。磁控器簡單且低成本。（2）直流磁體分為直流脈沖電流磁化方式和直流定電流磁化方式。前者比后者更容易電氣實現(xiàn)，一般用于剩余磁場檢測方式的部件的電磁。（3）永久磁鐵磁體是以永久磁體為勵磁源的永久磁體，是一種沒有電流源的著磁，DC定電流著磁體具有相同的特性，但是在調(diào)整電磁強(qiáng)度方面卻沒有那么方便一般來說，磁回路的設(shè)計保證了電磁強(qiáng)度。對于不同的永久磁鐵，為了實現(xiàn)最佳的磁電路，磁電路設(shè)計必須充分發(fā)揮與各自磁特性相應(yīng)的優(yōu)點。（4）復(fù)合磁化在上述的磁化方法中，獨立的磁化環(huán)只能在特定方向上磁化鐵磁性部件，即單向的磁化。因為單向著磁檢測不充分，所以需要采用復(fù)合著磁方式。復(fù)合磁化強(qiáng)度是將DC磁場和DC磁場、DC磁場和AC磁場、AC磁場以一定角度（相互正交等）合成磁場，形成目標(biāo)磁場。改變方向或可控制的磁化方向，對組件進(jìn)行磁化。當(dāng)然，這種陶瓷結(jié)構(gòu)復(fù)雜，控制電路也需要提高要求。3.2磁檢測器的設(shè)計在檢測系統(tǒng)中,重要的第一步就是檢測器設(shè)計。磁電波檢測器的內(nèi)部一個核心部件就是它內(nèi)部的電磁傳感器控制元件。感磁控制元件主要用途指的也就是對于物理磁場敏感,能把某個物理量級的變化信號轉(zhuǎn)換變大為強(qiáng)磁電信號的電磁傳感器。感應(yīng)元件線圈、霍爾元件、感應(yīng)二極管、電磁管和電阻器等,電磁電阻元件主要成分有很多不同類型。鑒于需要考慮到元件使用的成本經(jīng)濟(jì)性和元件設(shè)計的技術(shù)實用性,采取霍爾元件設(shè)計作為靜物和電磁場的感應(yīng)傳動元件,感受靜物和電磁場的運動改變霍爾元件,簡單的外結(jié)構(gòu),小巧的體積,寬廣的頻率響應(yīng),寬廣的動態(tài)響應(yīng)范圍,長期的使用壽命,更重要的是不與測量對象的組件接觸。因為霍爾元件的動作原理是基于霍爾效應(yīng)，所以在這里簡單介紹霍爾效應(yīng)是磁電效應(yīng)的一種，是由美國物理學(xué)家的霍爾(E.H.Hall)在1879年命名的。由于霍爾效應(yīng)明顯受到半導(dǎo)體材料的影響，現(xiàn)在存在著用半導(dǎo)體材料制作的各種霍爾元件，霍爾效應(yīng)的應(yīng)用范圍非常廣泛。這如圖3.2所示。圖3.2霍爾效應(yīng)原理將一塊半導(dǎo)體薄片放在垂直于其表面的磁場B中，在其1、2、3、4側(cè)面分別引出兩對接線，當(dāng)沿4、3方向(x方向)通以電流I時，就會在1、2兩面對稱的位置上產(chǎn)生霍爾電壓：(3－1)式中KH稱為霍爾元件靈敏度，單位為V/A·T，Ub稱為霍爾電壓，若知道了霍爾元件的Kh，測出I和Uh就可算出磁場B的大小，這就是霍爾元件測磁場的基本原理。圖3.3霍爾元件補(bǔ)償電路系統(tǒng)設(shè)計的霍爾傳感器的信號預(yù)處理電路主要由不等電位補(bǔ)償電路、差動放大電路、電壓比較電路、邏輯或電路構(gòu)成。電位的不均勻是由于器件本身的物理加工缺陷，在將感應(yīng)電壓傳送到下一個處理電路之前需要進(jìn)行零修正?？梢杂脠D3.3的電路來補(bǔ)償。使用電阻R1進(jìn)行零調(diào)整，可以實現(xiàn)不等電位補(bǔ)償。外部磁場為零時補(bǔ)償霍爾傳感器，輸出為0V。差動放大電路主要放大霍爾傳感器產(chǎn)生的微弱信號，將兩個信號轉(zhuǎn)換成一個信號發(fā)送到電壓比較器。該電路需要非常小的放大器失調(diào)電壓，如果可能的話需要調(diào)零。第四章信號檢測電路的基本原理4.1檢測電路的基本原理根據(jù)上述模型分析,電磁振動檢測器系統(tǒng)可以在每次檢測時分別輸出兩列額定電壓,該信號與正弦波類似。這里就已經(jīng)包括了全部的溫度檢測控制元件?；魻杺鞲衅骱筒顒有盘枅D像處理控制電路主要組成包括霍爾傳感器控制電路、差動信號放大控制電路、濾波控制電路、電壓差動比較控制電路、數(shù)字邏輯電路等幾個部分結(jié)構(gòu)組成。電路的主要基本原理和應(yīng)用技術(shù)電路框圖設(shè)計如圖4.1所示。圖4.1信號處理電路原理框圖4.1.1霍爾傳感器電路霍爾元件的測量電路如圖4.2所示?？刂齐娏鱅由電源E供給，電位計R調(diào)整控制電流的大小。霍爾元件的輸出與放大器的輸入電阻和測量儀器的內(nèi)部電阻等負(fù)荷連接。圖4.2霍爾元件測量電路霍爾元件分為線性測量和開關(guān)狀態(tài)，如果霍爾元件需要測量動線的運動度的變化，最好的方法是選擇馬達(dá)的運動靈敏度低、不均等電位小、穩(wěn)定性好、動線的變化度高的霍爾元件。例如，如果霍爾元素被設(shè)計為用于特定操作條件的開關(guān)設(shè)備，則有必要慎重考慮是否選擇開關(guān)靈敏度高的霍爾元件。圖4.3霍爾電勢輸出電路4.1.2差動放大電路檢測到的正弦波信號被轉(zhuǎn)換成方波信號，軸上的磁跡會使從檢測元件輸出的交流電壓信號非常弱，無法直接進(jìn)行計算和濾波等處理，因此會進(jìn)行信號放大處理。此目的可使用具有檢測器可調(diào)整增益的前置放大器。4.1.3低通濾波電路從放大器出來的信號，由于經(jīng)過了兩極放大，可以減少錯誤，但不能避免過大的錯誤信號，在此添加低通濾波器電路，刪除過多的錯誤信號，盡可能減少輸出信號的失真。4.1.4電壓比較器該電路被設(shè)計成將信號轉(zhuǎn)換成矩形波信號，便于以后的計算和處理。數(shù)據(jù)分析表明，該系統(tǒng)最重要的是電壓信號的零位置檢測和通過這種方式得到的相位差。因此，采用過零比較方式，如圖4.7(a)、(b)所示。(a)過零比較器(b)電壓傳輸特性圖4.7過零比較器及其電壓傳輸特性通過對過零比較器的分析可知，盡管是敏感元件,其抗干擾性相對較差。實際上,可以通過選擇一個集成式的電壓比較器或者是用它來替換一個電壓比較器,從而大大增強(qiáng)了對系統(tǒng)進(jìn)行干擾和防止的能力。第五章基于8051單片機(jī)的信號處理系統(tǒng)的設(shè)計5.1單片機(jī)概述5.1.1單片機(jī)的定義單片機(jī)通常也是指將一個中央處理運算機(jī)的處理核心設(shè)備、存儲器、計時控制裝置、i/o以及接口集成電路等所有電子計算機(jī)的主要技術(shù)功能組成部分都直接集成到某一個控制總線上或集成電路的一個芯片內(nèi)。單片機(jī)又被當(dāng)時人們通常叫做"微控制器MCU"。中文"單片機(jī)"這個關(guān)鍵詞就是對它的英文名"SingleChipComputer"的中文直譯.內(nèi)部結(jié)構(gòu)如圖5.1所示。圖5.1單片機(jī)內(nèi)部結(jié)構(gòu)框圖5.1.3MCS-51單片機(jī)的結(jié)構(gòu)及其組成圖5.28051單片機(jī)CPU內(nèi)部結(jié)構(gòu)原理圖（1）中央處理裝置（CPU）：MCS-51的CPU可以處理8位的二進(jìn)制數(shù)或代碼。CPU是微控制器的主要核心組件，包括運算器、控制器和多個寄存器和其他組件，參照圖5.2。（2）內(nèi)部數(shù)據(jù)存儲器（RAM）：MCS-51芯片共有256個RAM單元，其中最后128個單元被特殊寄存器占用，只有最初的128個單元可以作為保存讀取的寄存器來使用。因此，內(nèi)部數(shù)據(jù)存儲器通常指的是前128單元，被稱為內(nèi)部RAM。地址范圍為00H～FFH（256B）。這是包含數(shù)據(jù)存儲、一般工作寄存器、堆棧、比特地址空間等多功能數(shù)據(jù)存儲器。（3）內(nèi)部程序存儲器（ROM）：MCS-51內(nèi)部4KB/8KB字節(jié)的ROM、程序、原始數(shù)據(jù)和用于存儲表單，又被稱為程序存儲器，稱為內(nèi)部RAM。它的地址范圍是為0000H～FFFFFFH（64KB）。（4）并行I/O端口MCS-51具備實現(xiàn)數(shù)據(jù)輸入輸出的4個8位I/O端口（P0、P1、P2、P3）。（5）串行端口MCS-51有可編程的全雙工串行端口，用于實現(xiàn)MCU和其他設(shè)備之間的串行數(shù)據(jù)傳輸。串行端口功能強(qiáng)大，可被全雙工異步通信收發(fā)器和移位器使用。RXD（P3.0）是接收端口，TXD（P3.1）是發(fā)送端口。（6）中斷控制系統(tǒng)MCS-51單芯片微計算機(jī)的中斷功能強(qiáng)大，可滿足各種控制應(yīng)用程序的需要。51系列有2個外部中斷，2個定時中斷，1個串行中斷的5個中斷源。所有中斷被劃分為高級別和低級別兩個優(yōu)先級級別。5.2數(shù)據(jù)的采集5.2.1硬件電路原理動態(tài)參數(shù)檢測設(shè)備的系統(tǒng)硬件電路包括主控制單元（即，使用中央處理CPU、8051單芯片微計算機(jī)）、總線（包括數(shù)據(jù)總線、地址總線、控制總線）、存儲（包括數(shù)據(jù)存儲和只讀存儲器）、接口（I/O接口電路）、外圍設(shè)備（LED顯示器等）。如圖5.3。圖5.3系統(tǒng)結(jié)構(gòu)原理框圖5.2.2工作方式的選定該系統(tǒng)的設(shè)計數(shù)據(jù)獲取系統(tǒng)以8051MCU作為核心,完成了對檢測到的信號性質(zhì)值的獲得、計算和LED顯示。脈沖寬度的測量主要是通過計數(shù)器T0與T1來實現(xiàn)。在開始運行前,為了使用戶能夠初始化它并最終決定哪一種動作模型,需要把控制的數(shù)字寫到動作寄存器TMOD及控制寄存器TCON的模型中。在該模式檢測系統(tǒng)中,如圖5.4所示,在模式1中有一個計時器/電子計數(shù)儀T0和T1動作,GATE設(shè)定為0。圖5.4T0/T1工作方式1的結(jié)構(gòu)原理表5-28051單片機(jī)的工作方式選擇方法M1M0工作方式功能描述00工作方式013位計數(shù)器01工作方式116位計數(shù)器10工作方式2自動再裝入8位計數(shù)器11工作方式3定時器0：分成兩個8位計數(shù)器定時器1：停止計數(shù)M1M0：動作模式選擇位。計時器/計數(shù)器的4個動作模式由M1M0設(shè)定，如表5-2所示。在該設(shè)計中，計時器/計數(shù)器T0和T1在動作模式1下運行，因此將M1M0設(shè)定為01。TCON如下圖所示：各類型詳述如下。TF1：計時器1的溢出標(biāo)志位。當(dāng)計時器1溢出時，硬件將TF1設(shè)定為“1”，并進(jìn)行中斷。進(jìn)入中斷服務(wù)例程后，在查詢模式下，硬件將自動清除“0”，軟件將清除“0”。TR1：執(zhí)行計時器1的控制位。如果用軟件關(guān)閉計時器1，則清除“0”。GATE=1且INT1為高等級時，TR1設(shè)定“1”開始計時器1。GATE=0時，TR1設(shè)定“1”開始計時器1。TF0：計時器0的溢出標(biāo)志。功能和操作與TF1相同。TR0：計時器0執(zhí)行控制位。那個功能和動作和TR1相同。IE1：外部中斷1請求標(biāo)志。用銷檢測從1到0的級別跳躍，如果IT1=1，則硬件將該位置設(shè)為1，要求中斷。進(jìn)入中斷服務(wù)例程后，硬件會自動將其設(shè)置為0。IT1：外部中斷1觸發(fā)模式選擇位。0是低水平觸發(fā)器，1是下降邊緣觸發(fā)器。軟件集1中清除0。因為這個設(shè)計是由下降邊緣觸發(fā)的，所以會初始化為1。IE0：外部中斷0請求標(biāo)志。IT0：功能、操作方法與IT1相同。用這個設(shè)計取1。5.2.3復(fù)位電路復(fù)位操作通常有開啟電源復(fù)位和開啟電源或開關(guān)復(fù)位兩種基本形式。圖5.5（a）的左圖所示為一般的電源開啟電路。圖中的電容器C1和電阻R1構(gòu)成了15V電源的差動電路。受SCM等效電阻的影響，即使沒有圖中的電阻R1，也能實現(xiàn)電源接通和復(fù)位的動作功能，如圖5.5(a)中右圖所示。（a）上電復(fù)位（b）上電或開關(guān)復(fù)位圖5.5單片機(jī)的復(fù)位電路接通電源或開關(guān)復(fù)位需要在接通電源后SCM自動復(fù)位，在SCM工作中也可以通過開關(guān)操作復(fù)位SCM。圖5.5（b）所示為一般使用的電源接通或開關(guān)復(fù)位電路。接通電源后，由于電容器C2的充電和反轉(zhuǎn)閘門的動作，RST在一定期間內(nèi)保持高電平。該控制系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如圖5.6所示,采用了具有開啟式電源與開關(guān)自動復(fù)位功能的組合電路。該控制電路結(jié)構(gòu)簡單,大部分的情況下并沒有導(dǎo)致單片機(jī)在其他方面發(fā)生錯誤復(fù)位,但由于其中一部分的內(nèi)部寄存器很有可能導(dǎo)致發(fā)生錯誤復(fù)位,因此該控制引腳rst與10uf的去耦電容器進(jìn)行了連接。圖5.6上電復(fù)位和開關(guān)復(fù)位組合的電路5.2.4電源電路設(shè)計電源的質(zhì)量將會對整個系統(tǒng)測量的準(zhǔn)確性和檢測的精度產(chǎn)生嚴(yán)重干擾,為了大大提高可靠性,必須針對整個系統(tǒng)的電源特點進(jìn)行一些優(yōu)化和設(shè)計。圖5.7電源電路圖為了精確地簡化系統(tǒng)的電源設(shè)計,整體系統(tǒng)采用+5V電源。其電源工作原理電路框圖如下表5.7所示。用一臺開關(guān)式電源MSPS24E3將220V的交流信號轉(zhuǎn)換成24V的直流,用DC-DC模塊DCD24D5-200轉(zhuǎn)換成+5V的高頻穩(wěn)定化電源。此外,該控制電路也是利用安全管TVS,在發(fā)生電源短路時會自動地切斷一個電源,防止對于電源模塊和裝置造成的燒損。開關(guān)電源和DC-DC的特點是性能穩(wěn)定,可靠性高,開關(guān)電源MSPS24E3的一些主要參數(shù)說明如下。輸出功率為12V±3%。輸出功率為0.6A;紋波噪聲(P-P)通常為100mV。DC-DC24電源模塊結(jié)構(gòu)DCD24D5-200的一個基本主要參數(shù),其結(jié)構(gòu)如下表圖1-1所示。其中的輸入輸出電壓控制范圍一般是24V。輸出輸入電壓±5V;在線輸出輸入頻率為無噪聲(20mhz的輸出帶寬)100mV;在線輸入電壓的輸出穩(wěn)定性1.25%~1%;提高輸出在線電壓準(zhǔn)確度和精度(一個正常點在線/完全正常點)±5%。5.2.5數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的程序設(shè)計（1）主程序的設(shè)計主程序是單片機(jī)的各單元的初始化，掌管中斷控制等功能，單片機(jī)的控制程序。接通MCU8051的電源后，系統(tǒng)將首先初始化，然后執(zhí)行主程序。根據(jù)判定結(jié)果，調(diào)用對應(yīng)的子例程。執(zhí)行數(shù)據(jù)顯示后，程序結(jié)束，循環(huán)結(jié)束。系統(tǒng)如下初始化。圖5.8初始化程序流程圖晶振的定時頻率設(shè)定為12mhz時,定時分辨率設(shè)定為1μs、定時器初始值設(shè)定為0且不會有溢出時,該方法的最大定時時間設(shè)定為65536s。如果gate=0,啟動和停止對計時器/電腦中的計數(shù)器進(jìn)行控制將受到軟件的控制。tcon設(shè)置為00000011b,被設(shè)置為中斷0和下降邊緣1都在一個下降點觸發(fā)。流程圖如圖5.8。（2）脈沖寬度檢測的處理和步驟通過第2章的分析我們可得,在對h1和h2量子檢測頭這兩列的檢測信號進(jìn)行放大和零交叉比較后,通過邏輯或者簡單的運算方法就可以求出矩形波檢測信號的列。在矩形波的信號中,它包含了關(guān)于應(yīng)力、應(yīng)變、扭矩等各種動態(tài)參數(shù)的主要信息。檢測矩形波的脈沖寬度,用于數(shù)據(jù)處理和操作。將邏輯或逆向矩形波信號直接地輸入銷,取決于邏輯或逆向矩形波信號的逆向輸入銷。此時,引腳主要負(fù)責(zé)周期性的測量,引腳主要負(fù)責(zé)時刻性的測量。電路的連接原理如圖5.9所示,脈沖寬度檢測的原理結(jié)構(gòu)如圖5.10所示。圖5.9線路布置框圖圖5.10脈沖寬度檢測原理圖程序使用中斷方法測量時間和量。初始化器將GATE的位置設(shè)為0。同時，根據(jù)下降邊緣被觸發(fā)。當(dāng)?shù)谝粋€下降邊緣到來時，計數(shù)器T1被觸發(fā)開始計數(shù)。當(dāng)?shù)谝粋€降落邊緣的到來,計數(shù)器t1被自動觸發(fā)啟用進(jìn)行計數(shù)。當(dāng)引腳的第一個降低邊緣出現(xiàn)時,計數(shù)器t1停止進(jìn)行計數(shù),觸發(fā)的是計數(shù)器t0開始進(jìn)行計數(shù)。腳表示下降邊緣時，信號正好是全周期，計數(shù)器T1停止計數(shù)。此時，計數(shù)器T0和T1分別完成對和T1的測量。中斷處理流程圖如圖5.11所示。圖5.11脈沖寬度檢測流程框圖5.3數(shù)據(jù)的運算處理通過第二章的數(shù)據(jù)分析處理，通過以下結(jié)論式（2－16）、(2－17)、(2－18)、(2－19)、(2–11)進(jìn)行推論。就得到動態(tài)參數(shù)的檢測值結(jié)果，最后輸出在LED顯示器上進(jìn)行顯示。軸件的剪應(yīng)變：(2-16)軸件圓周邊各點的剪應(yīng)力：(2-17)軸件上的扭矩：=··(2-18)軸件的軸功率：=·=··(2-19)軸件旋轉(zhuǎn)的角速度：(2-11)5.3.1數(shù)據(jù)處理程序以下我們通過一個舉例來簡單說明,在對構(gòu)件剪應(yīng)力的數(shù)據(jù)處理中,當(dāng)pi、qi、t0收集到的單片機(jī)的剪應(yīng)力數(shù)據(jù)以后即可以被用于數(shù)據(jù)處理的功能通過8051單片機(jī)對其進(jìn)行運算處理,基于式(2-16)中的數(shù)據(jù)處理函數(shù)來描述處理過程中需要進(jìn)行的動態(tài)剪應(yīng)力,輸出發(fā)送給需要剪應(yīng)力的LED電腦或者顯示器上,即完成了一個動態(tài)參量的網(wǎng)絡(luò)檢測。程序解決過程的基本想法：首先，調(diào)用子程序，將與數(shù)字操作相關(guān)的所有參數(shù)轉(zhuǎn)換為二進(jìn)制BCD代碼，然后通過各種操作，計算的最終結(jié)果也通過子程序的調(diào)用得到，然后恢復(fù)為十六進(jìn)制。在十六進(jìn)制中確認(rèn)字體代碼，發(fā)送到LED顯示器以十進(jìn)制的形式進(jìn)行顯示。根據(jù)導(dǎo)出公式的特征，使用8051MCU的數(shù)據(jù)處理過程的程序流程圖如圖5.12所示。同樣，通過寫數(shù)據(jù)處理程序，也可以對上述導(dǎo)出的應(yīng)力、扭矩MMI、旋轉(zhuǎn)數(shù)WI、軸動力NNI等檢測量進(jìn)行運算輸出、顯示。圖5.12計算剪應(yīng)變的程序流程圖5.3.2程序運行過程中用到的子程序（1）整數(shù)加減法運算的程序因為存放在內(nèi)存單元的檢測數(shù)據(jù)是以整數(shù)形式存在的，所以計算程序計算M和的值時，只需要調(diào)用“十六進(jìn)制整數(shù)轉(zhuǎn)換成雙字節(jié)BCD碼整數(shù)”、“多字節(jié)BCD碼加法”還有“多字節(jié)BCD碼減法”等子程序就能使系統(tǒng)進(jìn)行加減法的運算。這幾個子程序的流程圖如圖5.13、5.14、5.15以及5.16所示。圖5.13十六進(jìn)制整數(shù)轉(zhuǎn)換BCD碼程序流程圖圖5.14BCD碼整轉(zhuǎn)成十六進(jìn)制流程圖圖5.15多字節(jié)減法程序流程圖圖5.16多字節(jié)加法程序流程圖但是，收集時間量的單片機(jī)獲取的大多是整數(shù)，其他參數(shù)大部分是浮點，因此在執(zhí)行乘法和除法運算的過程中，需要調(diào)用浮點乘法和除法的子程序。浮點數(shù)值的乘法和除法的基本原理如下。浮點數(shù)乘法運算基本原理設(shè)兩個浮點數(shù)分別為：A＝(－1)P2WA(5－1)B＝(－1)2WB(5－2)則乘積AB＝(－1)2WA(－1)2WB＝(－1)2WAWB(5－3)由此，可以得到兩個浮點數(shù)相乘的運算過程：①積的符號等于兩個浮點數(shù)符號的積，即同號得正，異號得負(fù)，可由兩個浮點數(shù)的符號位通過異或操作得到。②積的階碼可由兩個浮點數(shù)的階碼相加得到。（3）浮點數(shù)除法運算基本原理同樣，設(shè)兩個浮點數(shù)為：A＝(－1)2WA(5－4)B＝(－1)2WB(5－5)則商A/B＝(－1)2WA/((－1)2WB)＝(－1)2(WA/WB)(5－6)根據(jù)上述原則，進(jìn)行程序的編寫，可以順利地執(zhí)行數(shù)據(jù)處理整個過程。但是,如果我們認(rèn)為實際操作中數(shù)據(jù)的次序和數(shù)級量基本上是固定的,則在對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理之前,使用這個次序和數(shù)量級的改變,將操作中的數(shù)據(jù)首先被轉(zhuǎn)換為整數(shù),然后我們可以通過使用以下兩種方法對數(shù)據(jù)處理的運算應(yīng)用程序來對其進(jìn)行計算，程序流程圖如圖5.17、5.18所示。圖5.17多字節(jié)整數(shù)乘法程序流程圖圖5.18多字節(jié)整數(shù)除法程序流程圖5.4數(shù)據(jù)處理結(jié)果的輸出與顯示5.4.1LED數(shù)碼顯示的基本原理LED的顯示主要分為靜態(tài)或者動式的顯示。所謂的靜態(tài)顯示,必須是指每個字符接觸到并且會連續(xù)發(fā)光。動態(tài)顯示主要是將需要表現(xiàn)的數(shù)碼斷斷續(xù)續(xù)地從電流中輸出。如果同時需要顯示更多的字符，則可以按順序?qū)γ總€字符加以電流流動，并逐個顯示所需的字符。（1）靜態(tài)顯示MCU可以使用自己的靜態(tài)端口（PI端口）或擴(kuò)展I/O端口直接連接到LED電路，但也可以使用自己的串行端口TXD和RXD連接到LED電路。TXD和RXD可以在動作模式0下執(zhí)行，因此可以簡單地將其連接到移位寄存器。（2）動態(tài)顯示動態(tài)顯示控制的一個基本原理就是通過單片機(jī)在發(fā)送段中選擇控制數(shù)據(jù)字和LED顯示器相對應(yīng)的位置來選擇控制信號,顯示器一個一個地點亮。在對動態(tài)的掃描和顯示的控制中,同時,實際上只是因為有一位LED的顯示器才會發(fā)出信號。在此選擇共陰極LED顯示器。當(dāng)電壓較高時,數(shù)字信號管會點亮,顯示出來。在這種靜態(tài)顯示模式中,顯示驅(qū)動程序簡單且cpu的占有率較低,但是在各種led數(shù)字管中,它們都需要使用鎖存器來鎖存每-位具有顯示值的筆段代碼,硬件的啟發(fā)量和開銷很大(組件數(shù)多)僅適合于位數(shù)少（小于4位）的情況。顯示的位數(shù)在4~12之間時，主要采用以位為單位的掃描硬件解碼或以位為單位的掃描軟件解碼的動態(tài)顯示模式。請參照圖5.19。圖5.19八段LED顯示器原理圖第六章單片機(jī)的抗干擾技術(shù)在工業(yè)自動化,生產(chǎn)流程的控制,智能裝備等各個應(yīng)用場景中的單片機(jī)測量與控制技術(shù)應(yīng)用越來越多。但是，測量控制系統(tǒng)的現(xiàn)場工作環(huán)境往往過于苛刻，干擾是系統(tǒng)故障的主要原因。在工業(yè)應(yīng)用程序中，由于嚴(yán)重干擾，中斷模式控制字可能被破壞，發(fā)生中斷關(guān)機(jī)。所以為了使單片機(jī)在工作狀態(tài)中能很好的工作,不至于在外部環(huán)境的干擾下,出現(xiàn)不正常的現(xiàn)象。因此，防干擾問題是單片機(jī)必須解決的關(guān)鍵之一。單片機(jī)的防干擾技術(shù)有硬件技術(shù)和軟件技術(shù)兩種。這兩種防干擾方法如下所述。6.1單片機(jī)硬件抗干擾設(shè)計6.1.1抑制干擾源所謂的盡量抑制兩個干擾源,就是盡量減少抑制干擾源的兩個du/dt和源的di/dt。這些都已經(jīng)是目前防止電磁干擾控制裝置在初始設(shè)計時期所采用的最新且優(yōu)先度較高的重要工作原理,往往一半時的工作量都至少能夠同時達(dá)到2倍。干擾源溫度du/dt主要由于連接干擾源兩端的兩個并聯(lián)穩(wěn)壓電容器而有所降低。干擾源參數(shù)di/dt由于單個干擾源集成電路元件中的單個串聯(lián)電感器或并聯(lián)電阻和連續(xù)二極管元件數(shù)