從影響巖石電阻率的四個因素分析低阻油層的可能成因。1）巖性：當油層巖石骨架中含有一定量的金屬礦物時，由于金屬礦物自由電子多，導電能力增強從而導致電阻率降低。此外，當巖石中粘土含量高時，由于粘土束縛水飽和度較大以及陽離子交換能力強，使得粘土的附加導電性突出,電阻率降低。2）孔隙度：當油層巖石孔隙度較大，孔隙分布均勻且孔隙之間連通性較好時，導電能力增強。此外，若地層發(fā)育微孔隙，束縛水含量明顯增高也會加強導電能力。3）含油飽和度：含油飽和度較低且?guī)r石骨架的潤濕性為親水性的儲集層的電阻率也會較低。4）地層水電阻率：高礦化度地層水導致地層電阻率相當?shù)停袝r比周圍泥巖的電阻率還低。因此，若油層的地層水礦化度比水層高較多時，會出現(xiàn)低阻油層。2如何根據(jù)成像測井資料求取裂縫的傾角（已知井徑）：對于一般的中低角度裂縫（裂縫的傾角小于60°），在成像測井資料上會有正弦波形狀的曲線顯示。記曲線的最高點對應的深度為D1,最低點對應的深度為D2，井眼直徑為d，即裂縫傾角3根據(jù)側向測井和感應測井的電流分布分析不同產狀的裂縫對側向測井和感應測井響應的影響。：1）從電流流動上看，側向測井儀器供給的直流電視沿儲層徑向流動，所經的徑向地層是一種串聯(lián)關系，感應測井儀器是利用發(fā)射線圈發(fā)射交流電，由此產生的交變磁場是在地層中感應出此生電流，感應電流是環(huán)繞井軸流動的，徑向上相鄰的地層對于電流是一種并聯(lián)關系。2）高角度裂縫：對于感應測井說，其測量電路是與很小部分的裂縫串聯(lián)，從徑向分布上看，由知，雖然裂縫流體電導率大，但幾何因子小，整體上高角度裂縫對于感應測井影響較??；對于側向測井說，裂縫實際提供了低阻通道，原來徑向上相鄰的地層由串聯(lián)變?yōu)椴⒙?lián)關系，電阻率降低幅度較大，因此對于側向測井影響較大。3)低角度裂縫：對于感應測井說，由知，在幾何因子變化不大的情況下，裂縫流體的高電導率對于視電導率影響較大，即低角度裂縫對于感應測井影響較大；對于側向測井說，裂縫流體的電導率高，從而電阻率低，由知，對于視電阻率影響較小，即對于側向測井影響小4比較地層微電阻率掃描成像、聲波反射成像測井的測量原理及資料的主要用途，分析它們的探測特性和適用條件。：微電阻率掃描成像：測量原理：利用側向測井的思想，將很多小紐扣電極裝在導電的金屬極板上，但電極和極板之間要保持良好的絕緣。小紐扣電極作為測量電極，金屬板作為屏蔽電極，儀器上部的金屬外殼作為回路電極。測量時，極板貼靠井壁，給極板和電極供相同極性的電流，使極板上發(fā)出的電流對小紐扣電極發(fā)出的電流起聚焦作用，調節(jié)紐扣電極的電流大小，保持金屬極板的電位恒定，則紐扣電極的電流大小即可反應井眼附近地層的電阻率大小。掃描測量紐扣電極電流的變化，進行特殊的圖像處理，即可得到能直觀反應地層電阻率變化的圖像。資料的主要用途：判確定地層傾角和方位角，指示裂縫產狀及其方位，測量井徑，可進行更詳細的構造分析，地層學分析和巖石結構評價。探測特性：縱向分辨率可達0.2in,但探測深度很淺，易受泥漿侵入的影響。井壁覆蓋率一般達不到100%。適用條件：鹽水泥漿，規(guī)則井眼的裸眼井。聲波反射成像：測量原理：聲波反射成像測井利用超聲換能器向地層發(fā)射波長較短的超聲脈沖，脈沖沿井眼泥漿傳播到井壁時發(fā)生反射，反射回的脈沖又被同個超聲換能器所接收。測量時，超聲換能器在馬達的驅動下沿著儀器軸以一定的速度轉動，同時整個儀器又以一定的速度被提升，即測量位置螺旋式上升。儀器記錄脈沖的旅行時間（反應井徑的變化）、的幅度(反應地層聲阻抗的變化)、井眼方位和井斜數(shù)據(jù)。其中反射信號被傳送到地面后經過計算機轉換成圖像（反射波的幅度）。資料的用途：判斷巖性；確定地層面或裂縫面及其產狀，劃分裂縫帶；檢查射孔質量及套管的損壞情況；檢查壓裂情況。探測特性：縱向分辨率等于換能器每轉一周儀器提升的距離，最高可達0.2in,徑向探測深度淺，井壁覆蓋率100%。適用條件：適用于小比重鉆井液，小井眼的裸眼井或套管井中。兩種成像測井的差別在于，電成像的井壁覆蓋率稍差些，但由于巖石的電阻抗差異大于聲阻抗差異，因此在兩者縱向分辨率相同的情況下，電成像的分辨能力更好。方位側向成像測井原理：方位側向測井是在雙側向測井的上屏蔽電極中間加了12個小的矩形電極每個電極覆蓋30度地層，在每個方位電極的中心有一個監(jiān)督電極，在12個電極的上下方則有二個環(huán)狀電極，測井時每個電極供給相同的電流頻率與深側向相同，通過監(jiān)督電極來使中心監(jiān)督電極和環(huán)狀監(jiān)督電極的點位相同，從而是每個電流被相鄰的電極流出的電流和深側向的上電極電流聚焦，使電流沿著電極張開的角的方向流入地層并最終流回地面，用途：可以判別井眼周圍的非均質性，因為如果井眼不均勻12個電極測的電阻率就會有差，異儀器偏心等，使用條件，沒有偏心，井眼變化規(guī)則時探測特性：方位測井探測深度比前側向探測深度大，比深側向探測深度淺，它的分層能力優(yōu)于雙側向影響它的因素就是儀器偏心和井眼的不規(guī)則5分析比較T1R1R2T2、R1R2T1T2、T1R1R2R3R4T2、TR1R2R3R4四種結構聲系得到補償時差方法的優(yōu)缺點。：T1R1R2T2優(yōu)點：可以消除深度誤差、井徑不規(guī)則變化、儀器或井眼傾斜的影響。缺點：縱向分辨率稍大于間距，對薄層的分辨能力較差；對于低速地層可能出現(xiàn)盲區(qū)。R1R2T1T2(T1T2R1、T2R1R2)優(yōu)點：可消除深度誤差和井徑不規(guī)則變化的影響，縱向分辨率較高，不會出現(xiàn)盲區(qū)。缺點：電子線路復雜，井壁破碎帶測得時差不準確T1R1R2R3R4T2（T1R2R4、T2R1R3）優(yōu)點：可以消除深度誤差、井徑不規(guī)則變化、儀器或井眼傾斜的影響，不會出現(xiàn)盲區(qū)。缺點：聲系結構和電子線路復雜，井下儀器長度偏大，分辨率近似等于R2R4或R1R3的距離，分辨率較低。TR1R2R3R4優(yōu)點：可以消除深度誤差、井徑不規(guī)則變化、儀器或井眼傾斜的影響，可以測出不同縱向分辨率的時差數(shù)據(jù)，最小可為1英尺，也可以較為準確地測量低速地層和破碎帶井段的時差數(shù)據(jù)。缺點：聲系結構和電子線路復雜，井下儀器長度偏大，需要地面延遲系統(tǒng)的配合才能實現(xiàn)井眼補償和深度校正。6感應測井的幾何因子與側向測井的偽幾何因子有何不同：感應測井中，以微分幾何因子（）為例，它是指空間中截面積為1單元環(huán)的電導率對視電導率貢獻的百分比，其大小由單元環(huán)所在位置和大小以及線圈距有關，與地層性質無關，主要指不受地層電導率影響。側向測井中，以徑向幾何因子為例（），可見，它不僅與測量地層的幾何形態(tài)及大小有關，還與電流密度J有關，主要指受地層電阻率影響。7分析初始譜，儀器譜，經過30cm吸收物質后的散射譜。參：初始譜：根據(jù)放射性中核素的原子核初始衰變產生的伽馬光子的能量和強度畫出的能譜圖，橫坐標表示能量，縱坐標表示強度，譜圖中只有能量為0.662Mev的一條譜線。儀器譜：用伽馬譜儀測量的自然伽馬射線脈沖幅度譜（計數(shù)率與道址），是被光子與閃爍晶體相互作用所復雜化了的連續(xù)譜，比初始譜復雜的多。表示儀器探測到的直接來自源的伽馬射線譜。儀器譜的橫坐標為道址，反應能量的大?。豢v坐標為計數(shù)率，反應強度的大小。能量單一的伽馬射線經過儀器探測后會形成包括全能峰在內多個峰及平坦區(qū)的譜線圖，其中全能峰對應的道址最大，反應最大能量的伽馬射線；全能峰是由伽馬射線與探測器的晶體物質發(fā)生光電效應產生的，平坦區(qū)是由康普頓散射形成的。經過30cm吸收物質后的散射譜：表示源放出的伽馬光子經過30cm吸收物質后被儀器探測到的伽馬射線譜，儀器探測到的伽馬光子主要是與吸收物質發(fā)生康普頓散射后的伽馬光子，故伽馬光子的能量較低。散射譜圖橫坐標表示道址，縱坐標表示計數(shù)率，圖中只有一個多次峰且峰對應的道址較低（=0.1Mev處）。光電吸收截面指數(shù)Pe越大，相對計數(shù)率極大值越低，峰值對應的道址增大（可用各種效應的優(yōu)勢區(qū)來解釋）。<0.1Mev時，隨著能量降低，光子相對計數(shù)率逐漸減小，光電吸收逐漸成為主要的作用，對Pe反應敏感。>0.1Mev時，0.48Mev以上相對計數(shù)率受Pe影響很小，且計數(shù)率隨著能量增大而偏低。=0.1Mev時，出現(xiàn)極大值，且隨Pe增大，多次散射峰的幅度降低并向右移動。8常規(guī)雙感應、相量感應、陣列感應解決傳播效應影響的方法及優(yōu)缺點：所謂傳播效應是指電磁場在傳播過程中幅度的衰減和相位的偏移。常規(guī)雙感應測井儀是按照Doll幾何因子理論刻度的。但是用Doll幾何因子理論推導有用實部信號時，假定了傳播系數(shù)很小而被忽略，即忽略了傳播效應的影響。因而只有在電磁場頻率較低，地層電導率較低，即傳播因子確實很小時，常規(guī)感應測井儀測得的視電導率才更接近地層的真電導率，傳播效應影響較大時常采用圖版法進行校正處理。常規(guī)雙感應優(yōu)點是方便實現(xiàn)，計算量少，缺點是信號利用率不高，圖版因儀器結構，地層性質而異，通用性不強，且沒有考慮地層非均質性的影響。相量感應測井同時測量R信號和X信號，將兩者相減，根據(jù)X信號進行趨膚效應校正。即算成電阻性電導率和電抗性視電導率兩者相減近似得到比較準確的地層視電導率。這種方法優(yōu)點是利用了虛部信號校正，且通用性比圖版校正強，缺點是計算量大，忽略了傳播因子高階項的帶來的誤差，沒有考慮地層非均質性的影響。陣列感應測井也同時測量R信號和X信號，校正方法類似相量感應測井。但它比相量感應測井更進一步的是將兩者都用來合成視電導率，并且采用了考慮傳播效應的born幾何因子。優(yōu)點是實、虛信號共同合成電導率，且考慮了地層的非均值性。9哪些測井響應可以反應氣層，其原理是什么？：在測井儀器的探測范圍內存在氣層的時候，聲速測井、密度測井和中子孔隙度測井響應可以反應氣層。原理：聲速測井中的聲時差是通過門檻檢測技術（氣層對聲波衰減過大，使得儀器的第二個接受探頭未能檢測首波波至，導致聲時差變大，或忽高忽低的變化）進行記錄的，遇到氣層時，聲時差曲線上會出現(xiàn)周波跳躍現(xiàn)象。由于一般情況下氣的密度比油水的密度低很多，遇到氣層時，密度測井曲線上會出現(xiàn)負異常。中子測井儀是在飽含淡水的石灰?guī)r中刻度的，在遇到氣層時會產生挖掘效應（當Hh=0,即把含天然氣的孔隙體積當做巖石骨架處理時FN還小于FXO，這說明天然氣對快中子的減速能力比石灰?guī)r骨架還低，所以顯示為負的含氫指數(shù)，把天然氣對中子測井的這種影響稱為挖掘效應。）而使測得的孔隙度偏低。10分析頻率對感應測井探測特性、電阻率測量的動態(tài)范圍的影響：由于幾何因子是近似理論，采用的是準穩(wěn)態(tài)方法，即利用即時磁場而不是滯后磁場計算磁通量（忽略了傳播效應），而這種近似只有在涉及到的距離與電磁波波長相比時才有較好的效果。為了分析頻率的影響，應采取均勻介質的嚴格解，，P《1時才能忽略。線圈系確定后，w,電導率成為P的主要影響因素。對于常規(guī)感應測井來說，發(fā)射電流的頻率為20KHz，若L=0.8m,當電導率為0.01-1S/m時，趨膚深度介于3.65-36.5m,若頻率變大，電導率適用范圍將更小，所以頻率不能太高。頻率過低會使信號強度較弱，信噪比降低所以感應測井儀器的工作頻率不能太高也不能太低，頻率的選擇需要綜合考慮傳播效應的影響、探測深度、信號強度、信噪比和電阻率測量的動態(tài)范圍等指標各自的要求。11側向測井井眼校正圖版、圍巖校正圖版分析：側向測井特點分析：側向測井的基本思想是利用與主電流相同極性的屏蔽電流對主電極發(fā)出的主電流產生屏蔽作用，使主電流呈薄圓盤狀流入地層。由電流的流動路徑可以得出，各部分介質串聯(lián)接入了電路。因而，視電阻率是各部分介質電阻率的加權和。井眼校正圖版分析：在有井眼的條件下，從主電極發(fā)出的電流線受到屏蔽作用、分流作用和折射作用的影響。所謂分流作用就是由于高電阻地層（地層的電阻率總是高于鉆井液的電阻率）的存在，從主電極流出的電流總是“避開”這個高電阻地層，因而在井眼內流過的一段路徑要加長，電流呈輻射狀。當電流線達到地層和鉆井液分界面——井壁時（無侵入情況），又發(fā)生了第二種作用即折射作用，折射的結果總是使電流線在高電阻率一方更靠近法線方向。分流和折射的結果使有井眼的電流線不同于無井眼時的電流線。分流使徑向上的電流密度降低，從而使視電阻率降低。屏蔽作用和折射使徑向上的電流密度增高，從而使視電阻率增高。對于圖1中的(a)圖，當較小時，屏蔽作用起主要作用，徑向電流密度增大，從而使視電阻率偏高。當中等時，分流作用起主要作用，徑向電流密度降低，從而使視電阻率偏低。當較大時，折射作用起主要作用，徑向電流密度增大，從而使視電阻率偏高。對于圖1中的(b)圖，在小井眼條件下，當較小時，屏蔽作用較弱，分流作用起主導作用，徑向電流密度降低，從而視電阻率偏低。當較大時，折射作用起主要作用，徑向電流密度增大，從而視電阻率偏高。在大井眼條件下，分流作用一直處于主導地位，徑向電流密度偏低，從而視電阻率偏低。在此條件下，當較大時，電流主要從井眼泥漿中流過而主要反映泥漿的電阻率，從而使視電阻率遠小于地層真電阻率。圍巖校正圖版分析：對于圖2，由于側向測井的特點，視電阻率的結果會受到圍巖的影響，特別是對于薄層，圍巖的影響更為顯著。當?shù)貙与娮杪剩ń瓶捎靡曤娮杪蚀妫┐笥趪鷰r電阻率時，由于圍巖對視電阻率的貢獻而使視電阻率偏小，即校正系數(shù)大于1。反之，當?shù)貙与娮杪剩ń瓶捎靡曤娮杪蚀妫┬∮趪鷰r電阻率時，由于圍巖對視電阻率的貢獻而使視電阻率偏大，即校正系數(shù)小于1。當?shù)貙与娮杪剩ń瓶捎靡曤娮杪蚀妫┡c圍巖電阻率相差越大，圍巖的影響作用越強，視電阻率與真電阻率相差也越大，校正量也越大。從圖2還可以看出，隨著地層厚度的增大，校正系數(shù)逐漸趨近于1。這是由于當?shù)貙拥暮穸冉咏诨虺^側向測井儀的縱向分辨率時，視電阻率很少甚至不受圍巖的影響，圍巖校正系數(shù)自然接近于1。12各種因素對地層電阻率的影響分析：地層水電阻率：地層真電阻率隨著地層水電阻率的增大而增大，且呈線性關系變化。因為地層水電阻率增大會使地層的導電性減弱?？紫抖龋旱貙诱骐娮杪孰S著孔隙度的增大而減小，且呈指數(shù)規(guī)律變化。孔隙度增大，孔隙內可以存儲更多導電性較好的流體，從而使地層整體的導電性變好。含水飽和度：地層真電阻率隨著含水飽和度的增大而減小，且呈指數(shù)規(guī)律變化。水的導電性比油強，當含水飽和度增大時空隙中會含有更多導電性更好的流體，從而使地層的導電性變好，即地層的電阻率變低。比例系數(shù)和：地層真電阻率隨著、的增大而增大。比例系數(shù)、由巖性決定，對于巖石骨架電阻率高的巖性，、值也高。的取值一般為：0.6~1.5；的取值接近于1，一般取1；膠結指數(shù)（孔隙度指數(shù)）：地層真電阻率隨著膠結指數(shù)的增大而增大。膠結指數(shù)由膠結情況和孔隙結構決定，當膠結物電阻率高，膠結程度高，孔隙分布不均勻，孔隙連通性不好時，膠結指數(shù)大。的取值一般為1.5~3，一般取2；飽和度指數(shù)：地層真電阻率隨著飽和度指數(shù)的增大而增大。飽和度指數(shù)是與油、氣、水在空隙中分布狀況有關的指數(shù)，對于親油性巖石地層，飽和度指數(shù)一般較大，介于2.0~4.3之間；對于親水性巖石地層，飽和度指數(shù)一般較小，介于1.3~2.0之間。聲速測井臨界遠距13周波跳躍可以用來識別氣層和裂縫；但發(fā)生周波跳躍，其他應用需要考慮？答：在氣層處，由于氣層對聲波的物理衰減很嚴重，導致第二個接收探頭接收不到信號，從而發(fā)生周波跳躍現(xiàn)象。一旦發(fā)生了周波跳躍現(xiàn)象，則聲波時差曲線就不能應用于其他方面了。但在發(fā)生周波跳躍現(xiàn)象的地層處，要是有全波列測井資料的話，我們就可以從全波列測井資料中提取出縱波的時差代替聲波時差測井測得的時差，從而將其應用到其他方面。14視電阻率曲線是否合理？答：視電阻率曲線是合理的，因為由圖中的電阻率曲線可知，上下圍巖的電阻率都小于目的層的電阻率。根據(jù)七側向測井的電極系可知，對于淺側向測井而言，回路電極B離主電極較近，所以低阻圍巖對電流的吸引較小，或是對淺側向電流不起作用。而深側向測井的測量電極位于無窮遠處，低阻圍巖對電流由明顯的吸引作用，使流入目的層的電流密度降低，從而使測得的視電阻率值明顯低于真電阻值，也低于淺側向的電阻率值。所以上圖的電阻率曲線是合理的。對稱于地層中部（上下圍巖影響相同，還由于其電極系結構對稱）；沒有層界面特征點（受上下圍巖影響，上下界面有兩個小尖，隨著厚度增大，小尖逐漸消失）對于高阻厚層的中部視電阻率最高，曲線較平直，變化不大，可近似取為地層電阻率值。15水和氣泊松比和體積彈性模量的差別泊松比是和縱橫波的比值有關系，縱橫波的比值越大泊松比相應的有所增加在水中的縱橫波的比值比在氣體中的縱橫波的比值大，所以水的泊松比大于氣體的泊松比（水中縱波速度比氣大）彈性模量水的比氣的大，在改變單位線性應變水要的力大于空氣（水比空氣難以壓縮）16周波跳躍對求孔隙度、合成地震記錄的影響，以及泥漿中有氣會導致周波跳躍嗎？周波跳躍使測得的聲波時差變大而孔隙度變大，地震合成用到的是同相軸，時間增大會使地震同相軸偏離原本的方向，造成地震解釋的錯誤泥漿中有氣不會導致周波跳躍，因為聲波測井測的時差是聲波經過地一段層相應用的時間，17為什么有次生孔隙時聲波時差算孔隙不準？偏大還是偏??？因為聲波孔隙度是利用縱波的首波速度測量，而縱波是利用費馬最小時間原理轉播，所以只有巖石骨架和粒間孔對他有影響而裂縫和溶洞空隙沒有，測的是粒間孔隙度，測的值偏小18根據(jù)側向測井電極系結構及電場分布特點對井眼校正圖版、圍巖校正（地層厚度）圖版進行分析，并據(jù)此分析深、淺側向視電阻率曲線在泥巖處出現(xiàn)“雙軌”的原因，這種影響對用深淺曲線重疊判斷油水層及對裂縫評價是否有影響？若有，如何處理？測井電極系結構及電場分布特點：深、淺側向測井回路電極與主電極距離不同。深側向等位面是以電極系為軸一系列同心圓柱面，主電流線呈薄圓柱狀沿徑向進入地層；淺側向等位面是一系列橢球面，主電流線按一定角度散射進入地層。井眼校正：在有井眼的條件下，主電極Ao發(fā)出的電流要受到分流作用和折射作用，分流是指電流趨向于在低阻層內流動，相對于井眼中的泥漿而言，地層是高電阻層，因此電流在井眼中流經的路徑會加長，分流會使得主電流徑向上的電流密度降低，視電阻率也就隨之降低，校正系數(shù)大于1，當電流到達地層和泥漿分界面也就是井壁的時候，就會發(fā)生折射作用，折射使得電流線在高電阻率一側更靠近法線方向。也就是說折射使得徑向上的電流密度變高，視電阻率升高，校正系數(shù)小于1。圍巖校正：當圍巖電阻率低于目的層電阻率，低阻圍巖就會對電流有吸引作用，使得視電阻率降低，校正系數(shù)就會大于1，相反，如果是高阻圍巖，就會對電流有排斥作用，使得視電阻率升高，校正系數(shù)就會小于1。（側向測井圖版校正的合理性：在滲透層處，由于泥漿的侵入作用，在井壁上一般都會形成泥餅，通常情況下，泥餅的電阻率都小于地層的電阻率。當電流從主電極流出的時候，經過泥餅時，有一部分的電流就會從泥餅中流走，使流入地層的電流減小，從而使測得的電阻率小于地層的真電阻率。當電流流到泥餅和地層的分界面的時候，電流發(fā)生折射，從而使得電流向兩界面的法向方向靠攏。這就使得流入地層的電流密度增大，所測得的電阻率也會變大。在地層電阻率較低時，泥餅的分流作用起到主要的作用，使視電阻率降低，在圖版上表現(xiàn)的就是校正系數(shù)小于1但是當?shù)貙拥碾娮杪试龃蟮揭欢ǖ闹抵?，電流的折射作用將起到主要作用，使得視電阻率大于地層的真電阻率，在圖版上表現(xiàn)的就是校正系數(shù)小于1。）深淺側向測井在泥巖段出現(xiàn)“雙軌”的原因或視電阻率曲線是否合理？答：側向測井相當于電阻串聯(lián)。深側向主電極至回路電極之間的距離大于淺側向主電極至回路電極的距離。深側向主電流層厚度幾乎不變，淺側向主電流線進入地層后按一定的角度散射，電流層的厚度隨電流層半徑增大而增大。所以淺側向主電流回路電阻小于深側向回路電阻。在井筒內，深、淺側向的井筒電阻近似相等。由此可見，井眼泥漿對淺側向測井影響程度大于深側向，這是深淺側向測井在泥巖段出現(xiàn)“雙軌”的主要原因。當泥漿電阻率與地層電阻率相等時，深淺側向視電阻率相等，“雙軌”消失。“雙軌”對油氣層判斷及裂縫評價的影響及處理（1）井眼泥漿對深淺側向影響程度不一致對整個測量層段都有影響，只是在大段泥巖處能夠明顯地反映出來，表現(xiàn)為“雙軌”現(xiàn)象。在儲集層段，由于與儲集層本身的幅度差異疊加，不易被識別。由此可見，雙軌現(xiàn)象對油氣層判斷有影響，具體影響視井眼泥漿電阻率與地層電阻率相對大小關系而定。（2）裂縫引起的深、淺側向測井差異性質主要是由裂縫的產狀決定的。水平裂縫能加強側向測井的聚焦作用，使測量的電阻率降低，而且水平裂縫對深側向的聚焦作用比淺側向更強，從而使深側向電阻率值小于淺側向電阻率值，即為負差異。即使油氣存在，深淺側向的電阻率差異也較小。高角度縫的有效導電截面在徑向上不變，而孔隙的導電截面在徑向上是逐漸增大的，因此在淺側向測井探測范圍內，裂縫與孔隙的有效導電截面之比遠大于深側向測井，從而使深側向電阻率值大于淺側向電阻率值，即為正差異，并不代表油氣存在。（3）“雙軌”現(xiàn)象使深淺側向曲線幅度差變大或變小，與裂縫引起的幅度差異疊加，從而對裂縫評價也有影響。一種可行的消除方法是操作員在現(xiàn)場操作時，選定大段泥巖層段處，以深側向數(shù)值為準，將淺側向讀數(shù)校正到深側向曲線數(shù)值上來。目的是將淺側向所受井眼的影響校正到與深側向所受井眼影響的程度一致的程度。。19費馬時間證明第一臨界角為X，折射回探頭時的出射角為Y，從發(fā)射探頭T以第一臨界角X入射到地層所走的路程為AB所用的時間為T1=d/(Vf*cosX)（Vf是流體中的聲波速度，d是井的半徑）在得層中假設走的距離是BC則所用的時間是T2=（L-dtanX-dtanY）/VpVp是聲波在地層中的速度，L是源距，聲波從C點出射到接受探頭所走的路徑為CD傳播時間為T3=d/(Vf*cosY)總時間T=T1+T2+T3=d/(Vf*cosX)+（L-dtanX-dtanY）/Vp+d/(Vf*cosY)（1），該式二邊對Y求導得到：T’(Y)=-d/(Vp*cosY*cosY)+(dsinY/Vf*cosY*cosY)(2)讓(2)式=0求得sinY=Vf/Vp有Y=arcsinVf/Vp=X。所以聲波是以第一臨界角X入射又以臨界角X出射，這就說明所用時間最小20自然伽馬測井儀器標準化后能夠測量自然伽瑪記錄的是計數(shù)率標準化后輸出的是API為單位的伽瑪射線強度GR=N/S（1）其中S=(Nmax-Nmin)/GRs（2）Nmax表示基準井中伽馬射線的最大計數(shù)率，Nmin表示基準井中伽馬射線的最小計數(shù)率S是儀器的靈敏度。GRs是基準井的所測的API:。由于伽馬射線的計數(shù)率是儀器，地層，井眼等的函數(shù)，當儀器不同時測得的計數(shù)率不同，這是各個測量儀器的靈敏度不同。所以由（1）（2）可以得到GR=GRs×N/(Nmax-Nmin)：N/(Nmax-Nmin)：消除了儀器，地層，井眼等影響因素所以它是一個常數(shù)對于不同的儀器可以通用而且得到的數(shù)據(jù)是一樣的。21.地層厚度對視電導率曲線的影響，半幅點與地層厚度的關系：SP1mGR-1m常規(guī)感應測井2m層薄的時候，半幅點厚度往往偏大；厚層的時候，比較準確。22．周波跳躍可以識別氣層和裂縫；但發(fā)生周波跳躍時，其他應考慮的問題。泥漿中有氣泡時，會產生周波跳躍嗎？巖屑呢?答：在氣層處，由于氣層對聲波的物理衰減很嚴重，導致第二個接收探頭接收不到信號，從而發(fā)生周波跳躍現(xiàn)象。一旦發(fā)生了周波跳躍，則聲波時差曲線就不能應用于其他方面了。但在發(fā)生周波跳躍現(xiàn)象的地層處，要是有全波列測井資料的話，我們就可以從全波列測井資料中提取出縱波的時差代替聲波時差測井測得的時差，從而將其應用到其他方面。引起周波跳躍的實質是首波在兩個接收器之間發(fā)生嚴重衰減，引起這樣的原因有，（1）裂縫地層或破碎帶；含氣的未膠結的純砂巖；聲速非常高的巖層，由于巖層的波阻抗和泥漿差別非常大，聲波由泥漿進入地層中或由地層折回泥漿中時，能量傳遞很小。實際中，致密地層的聲波幅度明顯降低，便基于此道理。（2）井徑擴大很厲害的地層，以及泥漿中溶有氣體時等。（3）發(fā)射功率較小或者間距較大，但這一點在儀器設計時有所考慮。23.次生孔隙不能反映在聲波時差中？影響？當孔隙空間較大或是孔洞時，聲波脈沖式沿孔隙空間周圍的最小路徑傳播，而不穿過孔隙空間，所以次生孔隙探測不到24.分析為什么感應測井不能用來測Rxo感應測井不適合用來測量沖洗帶電阻率。首先要說的是沖洗帶電阻率一般情況下是采用貼井壁測量的方式，貼井壁測量儀器的探測半徑一般情況下我們認為是探測半徑以內的介質對測量結果的貢獻要達到90%,就感應測井而言，如果要達到90%的要求，那么其探測半徑就會遠大于兩個主線圈之間的距離，那么在某些地層測量結果受沖洗帶的影響就會比較小，受侵入帶影響比較大。如果采用不貼井壁測量的方法，沖洗帶對測量結果的貢獻就更低了，測量結果也就變得不可靠?？傊?，使用感應測井測沖洗帶電阻率結果并不可靠。25.井中傳播的斯通利波振幅和速度的降低？斯通利波的波幅隨距界面的距離增加而衰減，衰減與頻率也有關系。在高頻時，波幅衰減速度很快。但在低頻－或者在波長與井筒直徑相當時－斯通利波的波幅隨距井壁的距離增加衰減很少。在頻率足夠低時，從井壁的一邊到另一邊的波幅幾乎不變，產生所謂的管波。低頻率斯通利波對地層滲透率非常敏感。當波遇到滲透性裂縫或地層時，流體相對于固體震動，在這些地層中產生粘滯擴散，使波產生衰減，而且速度變慢。斯通利波能量和速度的減低隨頻率而變。可以對高帶寬范圍內的斯通利波頻散數(shù)據(jù)進行反演以便估計地層滲透率[8]。開啟裂縫也能導致斯通利波反射回發(fā)射器。反射波能量與入射波能量之比與裂縫開度有關。在硬地層中用這種技術探測滲透性裂縫效果非常好。一、電法1、描述介質電學性質的參數(shù)：電阻率、介電常數(shù)、磁導率地層電阻率與巖性（a.b）、物性(m.Φ)、含油性(Sw.n)、地層水性質Rw（所含鹽類、濃度、地層水溫度）有關導電機制：離子導電（孔隙水中的鹽離子導電）、粘土礦物表面有離子雙電層、礦物本身的自由電子導電直流電測井：普通電阻率測井，側向測井及其他聚焦測井，自然電位和激發(fā)極化電位（如普通電阻率用15Hz，雙側向用35Hz，280Hz）；交流電測井：感應測井（10Khz-150kHz）；高頻電測井：雙頻介電測井,EPT測井。阿爾奇公式：,阿爾奇公式適用條件：純巖石、均勻粒間空隙、孔隙度中-高2、視電阻率：將電極系在實際井眼和地層條件下測量的電位差按公式轉換的電阻率。視電阻率為各部分介質真電阻率的加權和，權系數(shù)為各部分的積分幾何因子。影響視電阻率的因素：井的影響（井徑越大、Ra小，Rm、以明顯高異常顯示出高阻層，低時極大值急劇下降，縱向分辨率能力下降）、侵入影響（水層高侵）、圍巖-層厚（h越小，Ra越?。?、電極系、高阻鄰層（h<AO，減阻屏蔽，h<AO高阻屏蔽）3、微電極提出原因：區(qū)分滲透層和非滲透層，由微電極和微電位組成，微電位反映泥餅電阻率，微梯度反映沖洗帶電阻率?？梢杂脕韯澐譂B透層，識別并扣除夾層。正幅度差：微電極>微梯度用途：劃分滲透層，識別并扣除夾層三側向測井：由主電極和上下兩個屏蔽電極組成，給這三個電極供給同極性電流，I0恒定，用ΔUA0A1調節(jié)屏蔽電流使A0,A1,A2三個電位相等。深度記錄點為A0中點，分辨率為主電流層的厚度。淺三側向在三個電極的兩側加了回路電極。三側向探測特性：深度記錄點A0中點；分辨率：主電流厚度0.175m；探測深度：深1.2m，淺0.35m七側向測井：一個主電極，兩個屏蔽電極和兩隊監(jiān)督電極，主電流和屏蔽電路同極性，保持I0恒定，調節(jié)Is，使得ΔUM1M2=0，主電流徑向流入地層，測量UM1N；相比三側向，探測深度更深。雙側向測井：在七側向的基礎上加上一對電極，當為深側向時，作為屏蔽電極，當為淺側向時為回路電極。雙側向曲線應用：1，適用于高阻剖面，鹽水泥漿2，劃分巖性剖面，判斷油氣，水層。3，求取地層真電阻率4，用于高阻地層裂縫識別，儲層評價。雙側向—微球組合儀分別探測沖洗帶，侵入帶和原狀地層電阻率。微球聚焦測井：輔助電極和主電極的電流極性相反。方位電阻率成像測井ARI，地層微電阻率掃面成像FMI。恒流法（0-幾千Ω.m）：測量電壓，適用高阻地層（三側向）；恒壓法（0-200）：中低電阻率（微球）；恒功率（0.2-4萬）：擴大電阻率測量范圍（雙側向）側向測井適用條件：鹽水泥漿、高阻薄層、低侵、碳酸鹽巖Ra=GmRm+GiRi+GtRt+GsRs側向測井：徑向微分幾何因子（單位厚度的，半徑為r的圓桶介質對測量結果貢獻的百分比）徑向積分幾何因子（半徑為x的圓柱狀介質電阻率對視電阻率貢獻的百分比，J（x）=0.5時的x為探測半徑）雙側向曲線特征：對稱于地層中部；沒有層界面特征點；取地層中部值；大段泥巖層處深淺不重合，出現(xiàn)雙軌現(xiàn)象雙側向曲線應用：適用于高阻剖面、鹽水泥漿條件；劃分巖性、判斷油氣水層；求地層真電阻率；用于高阻地層裂縫識別、縫層評價雙側向探測特性：探測深度：深60英寸（=1.524m），淺24英寸（=0.6096m）；分辨率30英寸（=0.762m）微球適用條件：水基泥漿井、深電阻率測Rt、滲透性的定向顯示；限制：不規(guī)則井眼、油基泥漿井、厚泥餅地層微電阻率掃描成像測井：速度校正（速度、深度）、歸一化處理、對紐扣電極信號進行平穩(wěn)補償、標準化處理（靜態(tài)、動態(tài)標準化）將電流強度校正處理轉換成不同輝度的“像元”靜態(tài)標準圖像：用大段井段內的統(tǒng)一配色，反映大井段的相對電阻率的變化動態(tài)標準圖像：用較小井段內配一次色，動態(tài)圖分辨能力很強，常用于詳細的地層分析，顯示小段內電阻率變化感應測井用交變電流的互感原理測量地層的電導率感應測井適用條件：淡水泥漿、中低地層、淡水砂泥巖剖面感應測井下井儀器：線圈系、振蕩器（產生正弦交變電流，常規(guī)20KHZ，陣列10-15KHZ）、放大器、相敏檢波器原理：振蕩器給發(fā)射線圈T提供正弦交變電流IT，在周圍產生一次交變電磁場Φ1，Φ1在接收線圈中產生一次感應電動勢Vx，在地層中產生交變電流IL，產生二次交變電磁場Φ2，接收線圈中產生二次感應電動勢VR。單元環(huán)：將地層分割成無數(shù)個以井軸為中心，截面積很小，半徑不同的圓環(huán)，這些圓環(huán)的平面與井軸垂直，可把這些圓環(huán)看成導電線圈，稱為地層單元環(huán)幾個假設：1.線圈系周圍的介質由無數(shù)個單元環(huán)組成2.發(fā)射線圈引起的渦流分別在單元環(huán)中流動3.每個單元環(huán)都單獨存在,且在接收線圈中產生有用信號de(感應電動勢）4.一次、二次磁場都是即時磁場5.接收線圈中有用信號VR(感應電動勢）是所有單元環(huán)的有用信號de之和：VR=kσ。視電導率是各部分介質真電導率的加權和,權系數(shù)稱為幾何因子.g的物理意義：均勻介質中,g是截面積為1的單元環(huán)的有用信號占均勻介質全空間有用信號的百分比,單元環(huán)位置、半徑不同,g的大小不同。非均勻介質中，g是截面積為drdz的單元環(huán)真電導率對視電導率貢獻的百分比（相對貢獻大小）。視電導率是各部分介質真電導率的加權和。g=de/VR，是截面積為1的單元環(huán)的有用信號占均勻介質全空間有用信號的百分比，單元環(huán)位置，半徑不同，g大小不同徑向微分幾何因子gr：半徑為r，厚度為1的無限長空心圓筒介質真電導率對視電導率的貢獻比例。h=r/L=0.45時，gr達到極大值,說明h=0.45處介質對測量結果貢獻最大。要增加探測深度,需要增大線圈距。徑向積分幾何因子Gr：半徑為r的無限長圓柱狀介質真電導率對視電導率的貢獻百分比探測半徑：把徑向積分幾何因子Gr=0.5時圓柱體半徑定義為儀器的探測半徑縱向微分幾何因子gZ：縱坐標為Z，厚度為1的無限延伸的水平狀介質真電導率對視電導率的貢獻比例。(1)T,R之間地層對視電導率的貢獻最大，之外的介質貢獻按1/Z2減小;(2)gZ決定縱向分辨力，要提高縱向分辨率，要求gZ曲線的峰窄，而且高，要求L要小?？v向積分幾何因子Gz：厚度為H的地層的真電導率對視電導率的貢獻比例，及圍巖的影響雙線圈系探測特性：探測深度淺，分辨率低，無用信號比有用信號幅度高幾十至上千倍復合線圈：分層能力強，在主線圈對中間加入補償線圈，減少井的影響，增加探測深度，外側加聚焦，提高縱向分辨率，減小圍巖影響根據(jù)X信號進行趨膚效應校正模擬刻度原理1感應測井儀是按照Doll幾何因子理論刻度的；2用Doll幾何因子理論的推導VR過程中，使用即時磁場(認為電磁波瞬間通過地層)；而不是用滯后磁場來計算磁通量；3忽略了電磁場在傳播過程中的幅度衰減和相位偏移—傳播效應.因此需要進行傳播效應校正。傳播效應使視電導率小于真電導率。傳播效應對高電導率地層有較大誤差。向量感應測井同時測量VR和VX信號，實部視電導率稱為電阻性視電導率，虛部視電導率去除第一項后的視電導率稱為電抗性視電導率。第一項代表線圈間的直藕信號。向量感應測井趨膚校正的基本原理：同時測量實部（R）和虛部（X）視電導率，，。兩者的第二項幅度相同，即可根據(jù)X信號進行趨膚效應校正。陣列感應成像測井儀的主要特點：采用幾種不同的工作頻率，以控制探測深度，并擴大了電阻率測量的動態(tài)范圍；實用陣列線圈系（一個發(fā)射，多組接收），同時測量R\X信號；采用軟件聚焦方法獲得多組具有相同垂直分辨率，探測深度不同的電阻率曲線；經處理，可得電阻率徑向變化的圖像陣列感應原理：一個發(fā)射線圈一個主接收線圈一個輔助接收線圈，輔助線圈S與主接收線圈R繞向相反（串聯(lián)相接），可通過調整輔助線圈的匝數(shù)及間距來消除直藕信號，測量多個工作頻率下三線圈單元的R及X信號不同感應測井解決傳播效應影響的方法：常規(guī)雙感應利用感應測井傳播理論做傳播效應校正圖版；向量感應測井中X信號用來進行趨膚效應校正。陣列感應測井也可能通過X信號來進行趨膚效應校正。1、分析頻率對感應測井探測特性、電阻率測量的動態(tài)范圍的影響2、根據(jù)側向測井和感應測井的電流分布分析不同產狀的裂縫對側向測井和感應測井響應的影響。3、感應測井的幾何因子與側向測井的偽幾何因子有何不同感應測井用途：在油基泥漿和淡水泥漿井得到Rt（井眼校正，層厚-圍巖校正，侵入校正），得到電阻率的徑向分布，反演得到Rxo,Rt,r1（沖洗帶半徑），r2（侵入帶半徑）二．聲波物理基礎：不同巖石的彈性力學性質不同，使其聲波傳播速度、衰減規(guī)律不同地質基礎：巖性、孔隙度不同，聲波傳播速度，孔隙流體性質不同，能量的衰減不同用途：確定巖性，計算孔隙度，判斷氣層，確定裂縫發(fā)育帶，判斷地層的各向異性，檢查固井質量，確定地層彈性參數(shù)研究方法：井內發(fā)射聲波，使聲波在地層中傳播或反射，在井內測量各種波的速度、幅度變化彈性力學參數(shù)：楊氏模量，切變模量，泊松比，體變模量，體積密度基本物理量：VP,VS,聲波時差，聲壓（聲波傳播而產生的壓強）聲功率W（在單位時間內通過波陣面?zhèn)鞑サ哪芰浚?，聲強J（在傳播方向上，單位時間，單位面積所傳播的聲波能量J=W/S）聲阻抗Z，聲衰減壓電效應：壓電陶瓷晶體在外力作用下產生變形時，會引起晶體內部正、負電荷中心發(fā)生位移而發(fā)生極化，導致晶體表面出現(xiàn)電荷累積。逆壓電效應：將晶體置于外電場中，電場的作用使晶體內部正、負電荷中心發(fā)生位移，從而導致晶體表面產生變形產生全波列的條件：硬地層，頻率15-30KHZ滑行縱波：V2P>V1，以第一臨界角入射，速度最快，幅度最小，非均勻波，能量集