合成孔徑雷達差分干涉測量學習教案_第1頁
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1、會計學1合成孔徑雷達差分合成孔徑雷達差分(ch fn)干涉測量干涉測量第一頁，共19頁。第1頁/共18頁第二頁，共19頁。第2頁/共18頁第三頁，共19頁。成另一幅干涉圖，利用這兩幅干涉圖進行差分處理(chl)，即所謂的差分雷達干涉測量。第3頁/共18頁第四頁，共19頁。第4頁/共18頁第五頁，共19頁。第5頁/共18頁第六頁，共19頁。第6頁/共18頁第七頁，共19頁。第7頁/共18頁第八頁，共19頁。第8頁/共18頁第九頁，共19頁。第9頁/共18頁第十頁，共19頁。第10頁/共18頁第十一頁，共19頁。差分干涉方法差分干涉方法所需數(shù)據(jù)所需數(shù)據(jù)DEM解解 纏纏兩軌法兩景圖像和一個DEM外部

2、不需要三軌法三景SAR圖像由一個InSAR像對形成需 要四軌法四景SAR圖像由一個InSAR像對形成需 要第11頁/共18頁第十二頁，共19頁。第12頁/共18頁第十三頁，共19頁。第13頁/共18頁第十四頁，共19頁。第14頁/共18頁第十五頁，共19頁。地震(dzhn)可以引起電離層異常第15頁/共18頁第十六頁，共19頁。第16頁/共18頁第十七頁，共19頁。謝謝(xi xie)觀賞WPS OfficeMake Presentation much more fun第17頁/共18頁第十八頁，共19頁。NoImage內(nèi)容(nirng)總結會計學。它有效地解決了雷達設計中高分辨率要求與大天線、短波長之間的矛盾，使分辨率提高了數(shù)百倍。它是把合成孔徑雷達產(chǎn)生的單視復數(shù)圖像中的相位提取出來，進行干涉處理而得到(d do)目標點三維信息的一種新技術。如圖所示，S、S2和S3分別為衛(wèi)星三次對同一地區(qū)成像的位置(即成像時雷達天線的位置)。在兩軌法中，外部DEM的精度、空間分辨率、插值方法及干涉基線對

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