154.2025年納米材料掃描隧道顯微鏡電子態(tài)表征技術(shù)考試試卷1.納米材料掃描隧道顯微鏡（STM）的工作原理是基于什么現(xiàn)象？A.光學(xué)衍射B.量子隧穿C.電磁感應(yīng)D.核磁共振2.STM在納米材料表征中最主要的優(yōu)點是什么？A.高分辨率成像B.快速掃描速度C.多種材料適用性D.低成本設(shè)備3.STM的分辨率主要受什么因素影響？A.電壓穩(wěn)定性B.電流穩(wěn)定性C.磁場干擾D.以上所有4.STM在測量電子態(tài)時，主要利用哪種效應(yīng)？A.量子霍爾效應(yīng)B.散射效應(yīng)C.耦合效應(yīng)D.塞貝克效應(yīng)5.STM的隧道電流對溫度的敏感度如何？A.高度敏感B.低度敏感C.無敏感度D.中度敏感6.STM在測量過程中，探針與樣品之間的距離通常是多少？A.微米級別B.納米級別C.毫米級別D.皮米級別7.STM可以用來研究哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有8.STM在研究納米材料時，可以提供哪種信息？A.形貌信息B.電子態(tài)信息C.磁性信息D.以上所有9.STM的掃描模式有哪些？A.固定高度模式B.恒流模式C.跟蹤模式D.以上所有10.STM的圖像分辨率可以達到多少？A.0.1納米B.1納米C.10納米D.100納米11.STM在測量電子態(tài)時，通常使用哪種類型的探針？A.電極探針B.量子點探針C.碳納米管探針D.以上所有12.STM的測量過程中，哪種參數(shù)是最重要的？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有13.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種物理量？A.電子能量B.電子密度C.電子自旋D.以上所有14.STM的圖像處理軟件通常具有哪些功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有15.STM在測量電子態(tài)時，通常使用哪種類型的樣品？A.單晶樣品B.多晶樣品C.非晶樣品D.以上所有16.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有17.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有18.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有19.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要嚴(yán)格控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有20.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子結(jié)構(gòu)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有21.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有22.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有23.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有24.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有25.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有26.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有27.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有28.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有29.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有30.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有31.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有32.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有33.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有34.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有35.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有36.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有37.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有38.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有39.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有40.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有41.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有42.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有43.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有44.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有45.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有46.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有47.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有48.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有49.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有50.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有51.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有52.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有53.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有54.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有55.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有56.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有57.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有58.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有59.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有60.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有61.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有62.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有63.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有64.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有65.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有66.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有67.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有68.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有69.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有70.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有71.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有72.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有73.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有74.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有75.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有76.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有77.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有78.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有79.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有80.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有81.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有82.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有83.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有84.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有85.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有86.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有87.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有88.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有89.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有90.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有91.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有92.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有93.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有94.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有95.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有96.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有97.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有98.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有99.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有100.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有101.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有102.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有103.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有104.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有105.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有106.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有107.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有108.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有109.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有110.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有111.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有112.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有113.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有114.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有115.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有116.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有117.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有118.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有119.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有120.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有121.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有122.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有123.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有124.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有125.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有126.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有127.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有128.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有129.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有130.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有131.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有132.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有133.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有134.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有135.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有136.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有137.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有138.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有139.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有140.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有141.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有142.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有143.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有144.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有145.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有146.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有147.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有148.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有149.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有150.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有151.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有152.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有153.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有154.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有155.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有156.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有157.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有158.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有159.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有160.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有161.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有162.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有163.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有164.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有165.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有166.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有167.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有168.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有169.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有170.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有171.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有172.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有173.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有174.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有175.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有176.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有177.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有178.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有179.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有180.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有181.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有182.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有183.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有184.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有185.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有186.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有187.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有188.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有189.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有190.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有191.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有192.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有193.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有194.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有195.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有196.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有197.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有198.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有199.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有200.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有201.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有202.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有203.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有204.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有205.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有206.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有207.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有208.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有209.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有210.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有211.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有212.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有213.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有214.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有215.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有216.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有217.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有218.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有219.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有220.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有221.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有222.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有223.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有224.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有225.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有226.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有227.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有228.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有229.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有230.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有231.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有232.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有233.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有234.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有235.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有236.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有237.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有238.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有239.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有240.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有241.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有242.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有243.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有244.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有245.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有246.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有247.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有248.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有249.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有250.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有251.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有252.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有253.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有254.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有255.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有256.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有257.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有258.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有259.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有260.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有261.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有262.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有263.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有264.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有265.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有266.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有267.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有268.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有269.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有270.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有271.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有272.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有273.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有274.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有275.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有276.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有277.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有278.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有279.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有280.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有281.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有282.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有283.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有284.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有285.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有286.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有287.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有288.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有289.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有290.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有291.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有292.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有293.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有294.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有295.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有296.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有297.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有298.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有299.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有300.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有301.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有302.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有303.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有304.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有305.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有306.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有307.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有308.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有309.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有310.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有311.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有312.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有313.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有314.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有315.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有316.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有317.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有318.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有319.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有320.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有321.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有322.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有323.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有324.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有325.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有326.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有327.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有328.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有329.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有330.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有331.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有332.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有333.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有334.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有335.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有336.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有337.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有338.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有339.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有340.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有341.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有342.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有343.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有344.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有345.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有346.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有347.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有348.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有349.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有350.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有351.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有352.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有353.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有354.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有355.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有356.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有357.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有358.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有359.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有360.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有361.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有362.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有363.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有364.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有365.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有366.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有367.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有368.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有369.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有370.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有371.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有372.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有373.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有374.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有375.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有376.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有377.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.數(shù)據(jù)可視化D.以上所有378.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種現(xiàn)象？A.電子隧穿B.量子限域C.表面態(tài)D.以上所有379.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致數(shù)據(jù)失真？A.熱噪聲B.散射噪聲C.磁場干擾D.以上所有380.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是必不可少的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有381.STM的圖像處理軟件通常具有哪種算法？A.插值算法B.濾波算法C.分割算法D.以上所有382.STM在研究納米材料時，可以用來研究哪種材料的表面性質(zhì)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有383.STM的測量過程中，哪種現(xiàn)象會導(dǎo)致探針損壞？A.過度掃描B.過度電流C.過度電壓D.以上所有384.STM的測量過程中，哪種設(shè)備是可選的？A.計算機系統(tǒng)B.數(shù)據(jù)采集卡C.控制單元D.以上所有385.STM在研究納米材料時，可以用來測量哪種材料的電子態(tài)？A.金屬B.半導(dǎo)體C.絕緣體D.以上所有386.STM的測量過程中，哪種參數(shù)需要精確控制？A.電壓B.電流C.溫度D.以上所有387.STM的圖像處理軟件通常具有哪種功能？A.圖像增強B.圖像分析C.