1、C6000測(cè)試程式項(xiàng)目分類,一般測(cè)試 ： 1. Input/Output 2. Dynamic 3. Sync Dynamic 12. Hold on adjust 14. Static 25. Sync Dynamic2 Regulation 測(cè)試 ： 4. Load REG. 5. Cross REG. 6. Line REG. 7. Combine REG. 20. Total REG. Timing 測(cè)試 ： 8. Turn on 9. Hold up 15. Extra Timing 保護(hù)測(cè)試 ： 10. OLP 11. OPP 18. Short circuit 19. OVP/U

2、VP 特殊測(cè)試 ： 13. EXT Wave 17. EXT Meas. 21. Cycle dropout 22. Vin ramp 23. Fin ramp 24. AC Noise C.T.,INPUT/OUTPUT TEST ( 1 ),輸出入特性測(cè)試 用以量測(cè)待測(cè)物在靜態(tài)負(fù)載條件下其輸入端及輸出端的特性。 量測(cè)的資料： 輸入端： Iinrms、Iinpk+、Iinpk-、Pin、Eff、Pf、Vin 輸出端：Vdc、Vpp、Vn、Pdc、Idc,INPUT/OUTPUT TEST ( 2 ),Iinrms :待測(cè)物的輸入電流均方根值 Pin :待測(cè)物的輸入實(shí)功率 Pdc :待測(cè)物總輸

3、出功率 Eff :效率（用表示） Eff= ( Pdc / Pin ) X 100% Pf :待測(cè)物輸入端功率因素 Pf= Pin / (Vin(rms) X Iin(rms) ) Delay Time =當(dāng)前項(xiàng)並沒(méi)有重大變化時(shí)，時(shí)間可以設(shè)稍短一點(diǎn)，約0.5sec即可 Meas. Time =必須要設(shè)3sec左右,Dynamic Test (1),動(dòng)態(tài)特性測(cè)試 用以量測(cè)待測(cè)物在動(dòng)態(tài)負(fù)載條件下的輸出特性,Dynamic Test (2),PERIOD-1 與 PERIOD-2系用SA內(nèi)的振盪器產(chǎn)生的，其誤差為100ppm,所以任何兩部SA間的偏差有可能到200ppm,因此對(duì)多組輸出的電源供應(yīng)器若

4、需要負(fù)載同步變化時(shí)，建議使用同步動(dòng)態(tài)特性測(cè)試（Sync Dynamic Test),Dynamic Test (3),Sync Dynamic Test,同步動(dòng)態(tài)特性測(cè)試 本測(cè)試之 “PERIOD-1” 及 “PERIOD-2” 係由第一組之SA產(chǎn)生並供給其他各組之SA以達(dá)到各組負(fù)載皆能同步的狀態(tài)。 第一組SA背板25Pin D-Type接頭的Pin 1要接到所有其他SA背板同一接點(diǎn)的Pin 14，以達(dá)到各部Switcher Analyzer的負(fù)載同步變化的效果。,Sync Dynamic 2,同步動(dòng)態(tài)測(cè)試2 本項(xiàng)測(cè)試和同步動(dòng)態(tài)測(cè)試過(guò)程相同,惟有量測(cè)值略有不同，量測(cè)的資料 Vpk(H)、Vpk

5、(L)、Vspike(H)、Vspike(L)的定義如左圖,Hold On Adjust Test,在線電壓調(diào)整 允許在線調(diào)整待測(cè)物的內(nèi)部線路以達(dá)到正確的輸出電壓或 OLP跳脫點(diǎn)。 本項(xiàng)測(cè)試過(guò)程中在調(diào)整迴圈時(shí)SA一直量測(cè)Vdc並將之上傳給電腦。,Static Test (1),靜態(tài)測(cè)試 本項(xiàng)測(cè)試與Input/Output Test 基本相同，隻是此項(xiàng)測(cè)試不讀取輸入端的量測(cè)值,Static Test (2),Delay time:視前項(xiàng)參數(shù)有無(wú)太大變動(dòng)，而去設(shè)定Time的長(zhǎng)短 Meas. Time:本項(xiàng)不量測(cè)輸出量測(cè)值，所以可視SPS而定，設(shè)定時(shí)間的長(zhǎng)短。 在S/A量測(cè)中每5ms讀取一次，連續(xù)8

6、次所得之平均值，顯示在屏幕上、解析度14bit 在設(shè)定Slew rate方面，建議當(dāng)負(fù)載大於3A時(shí)Slew rate 設(shè)為0.1A/s ，負(fù)載小於3A時(shí) Slew rate 設(shè)為0.01A/ s .,Load Regulation Test (1),負(fù)載效應(yīng)測(cè)試 用以檢測(cè)待測(cè)物某一組輸出，在其他各組輸出的負(fù)載保持固定時(shí)，給予三種不同負(fù)載大小，其電壓的反應(yīng)特性,Load Regulation Test (2),Delay time 一般設(shè)為0.5sec即可，依Power特性可以設(shè)得更短，甚至0.1sec Load Regulation 一般先由 I/R-1 中載 ，再 I/R-2 重載 ，最後

7、I/R-3 輕載 dV(+) 及dV(-)可設(shè)百分比值 Vdc Max及Vdc Min SPEC 一般設(shè)定5%,Cross Regulation (1),交叉負(fù)載效應(yīng)測(cè)試 用以量測(cè)當(dāng)待測(cè)物中其他組輸出電源的負(fù)載變化時(shí)對(duì)某 一特之輸出電壓的影響。,Cross Regulation (2),與Load Regulation 不同之處，在於選擇任一組輸出，做固定拉載，而其它各組做3種不同負(fù)載，量測(cè)因其它各組不同得加載對(duì)其電壓特性的影響,Line Regulation Test (1),電源效應(yīng)測(cè)試 用來(lái)量測(cè)輸出Load 負(fù)載固定，而輸入Line Voltage變動(dòng)，來(lái)觀察Vin 的變化對(duì)輸出的電壓特

8、性的影響。,Line Regulation Test (2),所有的待測(cè)物在測(cè)試全程中依指定負(fù)載大小加載。 當(dāng)本項(xiàng)測(cè)試完成後，輸入埠之設(shè)定會(huì)自動(dòng)回復(fù)到上一個(gè)測(cè)試程序的設(shè)定值。 系統(tǒng)不允許第四個(gè)輸入埠和第1、2、3輸入埠一起使用，當(dāng)發(fā)生這種狀況時(shí)，系統(tǒng)會(huì)有警示訊息告知。,COMBINE REGNLATION TEST (1),混合效應(yīng)測(cè)試 本項(xiàng)測(cè)試是以三種不同輸入電源和三種不同的負(fù)載狀態(tài)測(cè)試去量測(cè)輸出電壓特性,COMBINE REGNLATION TEST (2),測(cè)試時(shí)間約6sec.（如Delay Time =1 sec , Meas. Time =1 sec時(shí)） Vin-1 配合I/R-1

9、Vin-2 配合I/R-2 Vin-3 配合I/R-3 相當(dāng)於進(jìn)行3次Static Test相連,TOTAL REGULATION TEST (1),總效應(yīng)測(cè)試 本項(xiàng)測(cè)試是結(jié)合電源效應(yīng)測(cè)試，負(fù)載效應(yīng)測(cè)試在各種條件下進(jìn)行的測(cè)試 Change Load Off Time :當(dāng)負(fù)載狀態(tài)改變時(shí)，關(guān)閉待測(cè)物的時(shí)間 Change Vin Off Time :當(dāng)輸入條件改變時(shí)，關(guān)閉待測(cè)物的時(shí)間,TOTAL REGULATION TEST (2),Cycle :本項(xiàng)測(cè)試重復(fù)次數(shù)，最大可設(shè)10次 Delay Time :視前項(xiàng)是否有重大變化，若無(wú)可將時(shí)間設(shè)為0.5 sec. OR 0.1 sec.,Turn O

10、N 同時(shí)亦可量測(cè)穩(wěn)定時(shí)間(Tsb)或過(guò)沖電壓（Vos)並與設(shè)定的Vb進(jìn)行比較。 EMU亦同時(shí)可量測(cè)在輸入電源加到待測(cè)物前360ms內(nèi)之輸入湧浪電流。,Turn ON & SEQUENCE TEST (3),開(kāi)機(jī)相位角延遲“ON Phase delay”及關(guān)機(jī)相位角延遲“OFF Phase delay”係指開(kāi)機(jī)或關(guān)機(jī)時(shí)加入或切斷待測(cè)物之輸入電源之延遲時(shí)間,其單位為毫秒(ms)其計(jì)算的起點(diǎn)為交流電源由正半週要進(jìn)入負(fù)半週電壓為零時(shí)之點(diǎn) EMU 可以設(shè)定任何相位開(kāi)機(jī)。 由於AC Source 是以負(fù)緣開(kāi)機(jī)，所以在量測(cè)90開(kāi)機(jī)時(shí)，要往後挪3/4周。在此為何要設(shè)定 90 開(kāi)機(jī)，因?yàn)镾PS Power在Vi

11、n 90 時(shí)Inrush電流最大。 +90 開(kāi)機(jī) ：16ms x =12.4ms (60Hz) 20ms x =15ms (50Hz),Turn ON & SEQUENCE TEST (4),S/A 後背板 TTL pin (1) Trigger 1 表示AC ON/OFF 時(shí)間由（601or602)控制 (2) Trigger 2 表示PG信號(hào) (3) Trigger 36 為客戶自行設(shè)定，需在硬體上配合接線。 (4) Trigger 7 表示Va臨界電壓值，為S/A內(nèi)部比較信號(hào) (5) Trigger 8 表示Va臨界電壓值，為S/A內(nèi)部比較信號(hào),S/A 後面板 TTL PIN 25-pi

12、n D Type connector Pin1 : DY CTRL Pin2 : AC SYNC Pin3 : Va Pin4 : Vb Pin5 : TTL GND Pin6 Pin13 : ABCD 光耦信號(hào) Pin14 : DY CTRL Pin15 : JIG RDY Pin16 : TRIG 1 Pin17 : TRIG 2 Pin18 : TRIG 3 Pin19 : TRIG 4 Pin20 : TRIG 5 Pin21 : TRIG 6 Pin22 : TTL GND Pin23 : N. C. Pin24 : EX WAVE Pin25 : ANALOG GND,量測(cè)各組的R

13、ise time,可利用設(shè)定各組的Va.Vb值來(lái)測(cè)量 以+5V觀察1090%的時(shí)間，此時(shí)設(shè)定Vb=0.5V ,Va=4.5V Start Trigger ON :8 End Trigger ON: 7 LEVEL : H,Turn ON & SEQUENCE TEST (5),量測(cè)Ton Time 方法 Start Trigger ON: 1 (EMU 控制AC Source ON/OFF) End Trigger ON: 7 (Va 設(shè)定開(kāi)機(jī)臨界值） LEVEL : H,量測(cè)PG Time 方法 Start Trigger ON: 7 (Va 設(shè)定開(kāi)機(jī)臨界值） End Trigger ON:

14、 2 (PG信號(hào)） LEVEL : H,Turn ON & SEQUENCE TEST (6),Tsb(Stable time) Choose Vos 是以Vb 為基準(zhǔn)，會(huì)顯示VosVb or Vos100ms,Vos check設(shè)為Yes,這是在檢查，在100ms內(nèi)電壓是否有超過(guò)Vb設(shè)定值，一般而言，Vb=Vos。若END trigger 為Va 時(shí)，Tsb設(shè)為100ms，Vos Check設(shè)為No，這是在檢查，在100ms內(nèi)電壓是否有低於Va設(shè)定值，一般而言Va(undershoot)。 綜上所述Vos Check(Yes/ON),用戶可自行選擇是否需Check。,HOLD UP & SE

15、QUENCE TEST (1),關(guān)機(jī)測(cè)試 用以量測(cè)待測(cè)物在關(guān)機(jī)時(shí)之暫態(tài)特性。 待測(cè)物加載到所要的負(fù)載大小，並持續(xù)一段時(shí)間“Delay Time”，此段時(shí)間用以使待測(cè)物達(dá)到穩(wěn)定的工作狀態(tài)。 在先前的“Turn on & Sequence”程序或“Set Up”程序設(shè)定的相位角(Off Phase dalay)關(guān)掉待測(cè)物的輸入電源。,HOLD UP & SEQUENCE TEST (2),因?yàn)楸Ｗo(hù)測(cè)試後Delay time要設(shè)長(zhǎng)一點(diǎn)時(shí)間，故最好不要將此項(xiàng)（Hold UP)放在保護(hù)測(cè)試項(xiàng)目之後。 Hold up若放在測(cè)試程序中間時(shí)，必須考慮UUT OFF TIME的時(shí)間，但若將Hold up放在最後

16、一項(xiàng)時(shí)，可建議UUT OFF time的時(shí)間設(shè)定越短越好 基本上Hold up 和Turn on的參數(shù)設(shè)定相當(dāng)類似，隻是在時(shí)序上一個(gè)是開(kāi)機(jī)，一個(gè)是關(guān)機(jī)。,EXTRA TIMING TEST (1),附加點(diǎn)時(shí)序測(cè)試 用以測(cè)試待測(cè)物某物些由外加的信號(hào)所控制的功能，檢測(cè)該項(xiàng)功能Enable(Ton)或Disable(Thd)的時(shí)序 本項(xiàng)測(cè)試與Turn ON及Hold up類似，唯一不同之處在於測(cè)試過(guò)程中，並未將Vin關(guān)閉 可透過(guò)EMU 的Relay或TTL Port來(lái)遙控SPS的輸出電源開(kāi)啟或關(guān)閉,EXTRA TIMING TEST (2),PS-on信號(hào)由此項(xiàng)設(shè)定 從S/A 後面板25Pin-Dt

17、ype的Pin18 (Trigger3)和Pin25(GND) 分別與SPS的PS-on和GND相連，利用EMU的Float Relay控制PS-on信號(hào)；在程序中設(shè)定 Start Trig ： 3 H End Trir ： 7H,OLP TEST (1),過(guò)載保護(hù)測(cè)試 量測(cè)待測(cè)物在過(guò)載狀況下某一組輸出的反應(yīng)特性 Delay Time 指當(dāng)I/R start開(kāi)始拉載後延續(xù)多少時(shí)間，在於因?yàn)镻ower拉載時(shí)，需要一段時(shí)間穩(wěn)定，但是當(dāng)在做OLP時(shí)，若前項(xiàng)參數(shù)已經(jīng)將Power開(kāi)啟，並延續(xù)一段時(shí)間了，這個(gè)時(shí)候本項(xiàng)OLP的Delay time就可以設(shè)短一點(diǎn)，0.5sec即可或更短。若前項(xiàng)為關(guān)機(jī)項(xiàng)目，需重

18、新開(kāi)機(jī)拉載，此時(shí)就要考慮Delay time,因?yàn)橐话鉖ower 的100msPG time500ms,OLP TEST (2),UUT OFF Time 當(dāng)Power為Auto-recovery型時(shí)UUT OFF Time可設(shè)為0 當(dāng)Power為Power OFF reset型時(shí)UUT OFF Time可設(shè)為0 Volp: OLP的臨界電壓點(diǎn)，表示若低於此電壓值，就可發(fā)生OLP，但是千萬(wàn)不要設(shè)0值，因?yàn)樵诰€路上可能會(huì)有雜訊，所以設(shè)0V會(huì)有困難。 OLP Trip Point:觸發(fā)保護(hù)的電流值范圍max及min。 Trip Time( Tolp):從開(kāi)始拉載過(guò)載電流到電壓下降至Volp的時(shí)間。

19、 當(dāng)Vrec=*時(shí)，表示此Power 是Power of reset 型。,OLP TEST (3),若測(cè)試的Power為Auto-recovery型，當(dāng)要測(cè)OLP時(shí)必須設(shè)定： (1) I/R recovery: 在Power Short down後，必須再設(shè)一些拉載電流，才可以使Power重新拉載，設(shè)定輕載即可 (2) Trec :當(dāng)過(guò)載條件消失後，到輸出電壓回到Vrec點(diǎn)的時(shí)間 (3) Vrec :當(dāng)Power 恢復(fù)到設(shè)定的臨界電壓，當(dāng)?shù)竭_(dá)此值才能重新開(kāi)機(jī) 在測(cè)試OLP此項(xiàng)參數(shù)時(shí)，要以重載做拉載值 I/R start=設(shè)定值最好比重載稍高一些 I/R END =設(shè)定值最好比OLP Trip

20、 Point max值高一些，比OLP Trip Point min值低一些。,OPP Test (1),過(guò)功率保護(hù)測(cè)試 各組輸出皆加載，使其總功率過(guò)載 Delay time :當(dāng)OPP前項(xiàng)並無(wú)太大的變化時(shí)，可將Delay time設(shè)定時(shí)間稍加縮短，若前項(xiàng)為保護(hù)項(xiàng)目，則必須注意OPP的Delay時(shí)間 UUT OFF Time:是發(fā)生在Power保護(hù)時(shí)。時(shí)間稍設(shè)定長(zhǎng)一些，如3sec，用意在於當(dāng)power shunt down後，需要放電，當(dāng)如此設(shè)定的話，下一項(xiàng)參數(shù)如有一開(kāi)始要設(shè)定UUT OFF time,就可以設(shè)短一點(diǎn)。,OPP Test (2),OPP point:過(guò)功率保護(hù)跳脫點(diǎn) T opp

21、:從發(fā)生過(guò)載的負(fù)載加載到觸發(fā)Vtrig的時(shí)間 Vtrig：所設(shè)V值會(huì)影響量測(cè)時(shí)間，Vtrig 點(diǎn)就是當(dāng)輸出電壓降到此點(diǎn)，表示OPP動(dòng)作。 Vtrig port:利用M1M10, L1L6來(lái)當(dāng)作OPP跳脫觸發(fā)測(cè)量點(diǎn)。（注：一般M1代表Load1,在公司出貨時(shí)治具已經(jīng)將M1M6與L1L6並接） I/R rec :是指Auto-recovery型Power,在發(fā)生OPP後，電壓恢復(fù)到Von點(diǎn)所需加載的負(fù)載電流大小 V-disable :所謂Vdisable的量測(cè)目的在於S/A 偵測(cè)輸出組發(fā)生OPP時(shí)V down到多少值，用以判別SPS是否真有down下來(lái) 若還需額外量測(cè)，可以利用M1 M10 or

22、L1L6去偵測(cè),SHORT CIRCUIT TEST (1),短路測(cè)試 量測(cè)待測(cè)物其中一組輸出短路時(shí)待測(cè)物之反應(yīng)特性 I/R 可設(shè)定為重載 Short Time :設(shè)定0.1sec即可，實(shí)際短路時(shí)間比此值略長(zhǎng)100ms。 動(dòng)作方式：Relay先搭上，再經(jīng)Short time,在量完M1M10後，Relay才放開(kāi)。,SHORT CIRCUIT TEST (2),I sc-rms :可視為Current Limit 若要量測(cè)I sc-rms值，short time最好設(shè)定要大於0.55 若要量測(cè)Pin值，short time最好要大於3sec，才可量測(cè)到較精準(zhǔn)的Pin值。 Vdisable: 在“

23、Short Time”結(jié)束時(shí)待測(cè)物的輸出電壓。,SHORT CIRCUIT TEST (3),例如：當(dāng)測(cè)試檔案中“Which Load”設(shè)定為1時(shí)，圖中之LOAD 1 Relay， SHORT RELAY，及Isc MEAS RELAY都接通以量測(cè)Icspk，當(dāng)“Short Time” 結(jié)束時(shí)，DVM量測(cè)Iscrms。Iscrms量測(cè)完畢後Isc MEAS RELAY 斷路，INPUT MEAS RELAY接通以量測(cè)Pin、Iinpk+、Iinpk-之後EMU 執(zhí)行10點(diǎn)量測(cè)(取自L1L6或M1M10)。,OVP/UVP TEST (1),過(guò)電壓低電壓保護(hù)測(cè)試 檢測(cè)待測(cè)物在輸出電壓過(guò)高或太低時(shí)之保護(hù)功能,必須以輕載測(cè)試，同時(shí)要注意I limit的設(shè)定（系因電壓上升或下降時(shí)，電流隨之變化，所以需設(shè)定限值，以防止DC Source電流太大） Meas. Delay after OVP/UVP trip:指在保護(hù)後多少時(shí)間再測(cè)量。 Release time:指OVP Source 與UUT之輸出切斷一斷時(shí)間。Auto recovery 型SPS 可不用設(shè)定Release time,OVP/UVP TEST (2),Vvp :當(dāng)發(fā)生OVP/UVP跳脫時(shí)，OVP